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Equotip 550 Leeb U

Equotip 550 Leeb U 直接衍生于深受欢迎的 Parotester。使用它,用户可快速而准确地诊断纸卷缺陷、硬度不均和卷纸不均等情况,从而预防打印和再加工所遇到的问题。

Equotip 550 Leeb U轻巧,便于携带,非常适合在仓库或生产车间中进行纸卷硬度检测,并可即时目测其硬度。

新一代 Equotip 触屏装置提供由行业专家精心设计的界面,提高了检测效率和改善用户体验。改进的软件可提供互动向导、自动验证进程、个性化选项和自定义报告功能。触屏装置与现有 Parotester 冲击装置兼容。

全彩显示屏使您能够获得最高质量的测量体验和数据分析。特殊设计的外壳适于恶劣的现场使用环境。

Equotip 550 Leeb U 冲击装置

  • 冲击能量:200 Nmm
  • 默认单位:HLU(与 LU 相等)
  • 极为耐用
  • 支撑环:大顶冠,可安全和稳定地冲击弯曲表面
  • 加载管:使用简易,加载和释放都在一个平滑的运动上

 

Equotip 触屏装置

  • 向下兼容性:兼容现有 Parotester 冲击装置
  • 支持条码读取器,便于快速、轻松和可靠地识别各种卷状物
  • 引导向导:预定义工作流程以增强流程可靠性和提高测量精确度
  • 互动指南:通过屏幕通知获取你在应用上最相关的设置
  • 自定义报告:模块化报告处理器允许自定义测量报告
  • 支持 11 种语言和时区
  • 免费提供 PC 软件
  • 外壳经过特殊设计,可用于严苛的现场环境 (IP 54),包函背带、集成支架和遮阳盖
  • 高分辨率彩色显示屏
  • 电池使用时长 > 8h
  • 8 GB 闪存(> 1’000’000 个测量值)
  • 双核处理器,支持各种通信接口和外围接口:探头连接器、USB 主机、USB 装置和以太网

纸卷分析和纸卷硬度检测:

  • 大纸卷
  • 中型纸卷
  • 小纸卷
  • 薄胶片卷
  • 薄膜卷
  • 涂层卷

Equotip Leeb 冲击装置

测量精度± 6 HLU
冲击能量U 探头为 200.0 Nmm
冲击体质量U 探头为 26.0 克(0.92 盎司)
球压头U 探头为硬化钢,直径 50.0 毫米
(1.97 英寸)

仪器:

显示屏7” 彩色显示屏 800 x 480 像素
内存内置 8 GB 闪存
(可存储多达 1000000 个测量值)
区域设置公制和英制单位,支持多种语言和时区
电池锂聚合物,3.6 V、14.0 Ah
电池使用时长> 8h(标准操作模式下)
电源输入

12 V +/-25 % / 1.5 A

重量(显示装置)大约 1525 g(含电池)
尺寸250 x 162 x 62 mm
最高海拔2500 m 海拔高度
湿度< 95 %RH,非冷凝
操作温度0°C 至 30°C(32 至 86°F)
(正在充电且仪器正在运行)
0°C 至 40°C(32 至 104°F)
(正在充电且仪器关闭)
-10°C 至 50°C(14 至 122°F)
(未充电)
环境适合室内与室外使用
IP 等级IP 54
污染等级2
安装类别2