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Solutions since 1954

Equotip

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Equotip
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Equotip
Equotip

Soluções portáteis para ensaios de dureza

Leeb, Rockwell e UCI

O Equotip Proceq permite inspecionar praticamente qualquer objeto, peças polidas e superfícies tratadas a quente. Os ensaios de dureza são realizados utilizando o método de ensaio de rebote dinâmico Leeb, ensaio de dureza estático Portable Rockwell e o método de Impedância Ultrassônica de Contato (UCI). Os robustos equipamentos para ensaios de dureza portáteis Equotip produzidos na Suíça são aplicáveis em laboratório, em workshops, em instalações de produção ou “in situ.” A mais recente inovação da Proceq é a novíssima solução Equotip Live, que utiliza Bluetooth para se conectar com um aplicativo iOS e tecnologia de sincronização de última geração!

Desde que a Proceq inventou o princípio de ensaio Leeb em 1975, o Equotip se estabeleceu como técnica de medição mundialmente reconhecida para ensaios de dureza portáteis e um padrão para a indústria. Uma gama ampla de dispositivos de impacto diferentes, além de uma ampla seleção de blocos de ensaio e acessórios cobrem a maioria das aplicações. 

Equotip 550 UCI
Equotip 550 Portable Rockwell
Equotip 550 Leeb
Equotip Live Leeb D
Equotip Piccolo / Bambino 2
Descrição
Descrição

O equipamento para ensaio de dureza UCI é apropriado para material de grão fino de qualquer formato e para superfícies tratadas a quente. A carga de ensaio é ajustável e patenteada. Permite uma gama ampla de aplicações. Robusta unidade de leitura de dados com tela touchscreen com recursos de software melhorados e funções de análise.

Descrição

O dispositivo para ensaio de dureza Portable Rockwell é aplicado para peças de pequena espessura, polidas e leves. Ele disponibiliza sensibilidade excelente através da uma penetração mínima de alguns micrômetros. Robusta unidade de leitura de dados com tela touchscreen com recursos de software melhorados e funções de análise.

Descrição

O versátil equipamento de dureza Leeb é apropriado para ensaios "in situ" de materiais pesados, grandes ou para peças já instaladas. Robusta unidade de leitura de dados com tela touchscreen desenvolvida para disponibilizar uma experiência excepcional ao usuário de medição e análise melhores possíveis. Recursos de software melhorados e funções de análise.

Descrição

A primeira solução em equipamento para ensaio de dureza portátil e sem fio totalmente IoT no mundo, com compartilhamento de dados em tempo real, backup na nuvem e interface do usuário intuitiva. O dispositivo de impacto Equotip Live Leeb D ultra portátil é perfeito para o uso em espaços confinados. 

Descrição

Dispositivo para ensaio de dureza prático e totalmente integrado com uma carcaça compacta e robusta. Ideal para ensaios de dureza rápidos "in situ". Sonda DL opcional para espaços confinados e superfícies com reentrâncias. Equotip Piccolo 2 permite a transferência dos dados para um PC.

Suas vantagens
Suas vantagens
Combine com Leeb e Portable Rockwell

Combine com Leeb e Portable Rockwell

Retorno na tela para reduzir as imprecisões da medição causadas pelo operador

Retorno na tela para reduzir as imprecisões da medição causadas pelo operador

Relatórios prontos para o uso através do poderoso recurso de relatórios integrado

Relatórios prontos para o uso através do poderoso recurso de relatórios integrado

Suas vantagens
Combine com Leeb e UCI

Combine com Leeb e UCI

Igualmente confiável, preciso e padronizado, mas mais rápido do que os dispositivos de ensaio de dureza estacionários Rockwell

Igualmente confiável, preciso e padronizado, mas mais rápido do que os dispositivos de ensaio de dureza estacionários Rockwell

Relatórios prontos para o uso através do poderoso recurso de relatórios integrado

Relatórios prontos para o uso através do poderoso recurso de relatórios integrado

Suas vantagens
Utilize com o portfólio de sondas Leeb completo e combine com Portable Rockwell e UCI

Utilize com o portfólio de sondas Leeb completo e combine com Portable Rockwell e UCI

Vem com a alta acurácia conhecida em todos os produtos Equotip

Vem com a alta acurácia conhecida em todos os produtos Equotip

Relatórios prontos para o uso através de poderoso recurso de relatórios integrado

Relatórios prontos para o uso através de poderoso recurso de relatórios integrado

Suas vantagens
Bandwidth down to 200 kH

Dispositivo de impacto sem fio e interface do usuário clean

Compartilhe facilmente as suas medições e relatórios em tempo real com o mundo todo

Compartilhe facilmente as suas medições e relatórios em tempo real com o mundo todo

Livro de registros para rastreabilidade total dos dados e para adicionar mídia

Livro de registros para rastreabilidade total dos dados e para adicionar mídia

Suas vantagens
Modelo de entrada para ensaios rápidos “in situ”

Modelo de entrada para ensaios rápidos “in situ”

A carcaça compacta e correção automática do ângulo de impacto permitem utilização flexível

A carcaça compacta e correção automática do ângulo de impacto permitem utilização flexível

Vem com a alta acurácia conhecida em todos os produtos Equotip

Vem com a alta acurácia conhecida em todos os produtos Equotip

Escala nativa
Escala nativa

HV (UCI)

Escala nativa

μm, µpol

Escala nativa

HL

Escala nativa

HL

Escala nativa

HL

Faixa de medição
Faixa de medição

20 - 2000 HV

Faixa de medição

0-100 µm; 19-70 HRC; 35-1.000 HV

Faixa de medição

150 – 950 HL

Faixa de medição

150 – 950 HL

Faixa de medição

150 – 950 HL

Precisão da medição
Precisão da medição

± 2% (150 - 950 HV)

Precisão da medição

± 0.8 µm; ~ ± 1.0 HRC

Precisão da medição

± 4 HL (0.5% a 800 HL)

Precisão da medição

± 4 HL (0,5% a 800 HL)

Precisão da medição

± 4 HL (0,5% a 800 HL)

Escalas disponíveis
Escalas disponíveis

HB, HV, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, MPA

Escalas disponíveis

HB, HV, HRA, HRB, HRC, R15N, HR15T, HMMRC, MPA

Escalas disponíveis

HB, HV, HRA, HRB, HRC, HS, MPA

Escalas disponíveis

HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA

Escalas disponíveis

HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA (apenas Equotip Piccolo 2)

Sondas disponíveis
Sondas disponíveis

UCI (Adjustable HV1 - HV5)

Sondas disponíveis

Portable Rockwell (50N)

Sondas disponíveis

Leeb D / DC / DL / S / E / G / C

Sondas disponíveis

Leeb D

Sondas disponíveis

Leeb D / DL

Combinação com outros métodos
Combinação com outros métodos

Leeb, Portable Rockwell

Combinação com outros métodos

Leeb, UCI

Combinação com outros métodos

Portable Rockwell, UCI

Combinação com outros métodos
Combinação com outros métodos
Rugosidade média Ra (µm / µpol)
Rugosidade média Ra (µm / µpol)

12.5 / 500

Rugosidade média Ra (µm / µpol)

2 / 80

Rugosidade média Ra (µm / µpol)

7 / 275 (Leeb G)

Rugosidade média Ra (µm / µpol)

2 / 80

Rugosidade média Ra (µm / µpol)

2 / 80

Massa mínima (kg / lbs)
Massa mínima (kg / lbs)

0.3 / 0.66

Massa mínima (kg / lbs)

Sem requisitos

Massa mínima (kg / lbs)

0.02 / 0.045 (Leeb C)

Massa mínima (kg / lbs)

0.05 / 0.2

Massa mínima (kg / lbs)

0.05 / 0.2

Espessura mín. (mm / pol.)
Espessura mín. (mm / pol.)

5 / 0.2

Espessura mín. (mm / pol.)

10 x profundidade da indentação

Espessura mín. (mm / pol.)

1 / 0.04 (Leeb C)

Espessura mín. (mm / pol.)

3 / 0.12

Espessura mín. (mm / pol.)

3 / 0.12

Equotip 550 UCI
Equotip 550 Portable Rockwell
Equotip 550 Leeb
Equotip Live Leeb D
Equotip Piccolo / Bambino 2
Objetos planos
Objetos planos
Objetos planos
Objetos planos
Objetos planos
Objetos planos
Objetos curvos
Objetos curvos
Objetos curvos
Objetos curvos
Em combinação com anéis de suporte
Objetos curvos
Em combinação com anéis de suporte
Objetos curvos
Em combinação com anéis de suporte
Objetos leves
Objetos leves
Objetos leves
Objetos leves
Com dispositivo de impacto Leeb C
Objetos leves
Objetos leves
Objetos muito duros
Objetos muito duros
Objetos muito duros
Objetos muito duros
Com dispositivos de impacto Leeb S e E
Objetos muito duros
Objetos muito duros
Objetos fundidos
Objetos fundidos
Objetos fundidos
Objetos fundidos
Com dispositivo de impacto Leeb G
Objetos fundidos
Objetos fundidos
Objetos polidos
Objetos polidos
Objetos polidos
Objetos polidos
Com dispositivo de impacto Leeb C
Objetos polidos
Objetos polidos
Acessibilidade limitada
Acessibilidade limitada
Acessibilidade limitada
Acessibilidade limitada
Com dispositivos de impacto Leeb DC e DL
Acessibilidade limitada
Acessibilidade limitada
Com dispositivo de impacto Leeb DL
Objetos finos
Objetos finos
Objetos finos
Objetos finos
Objetos finos
Objetos finos
Superfícies tratadas a quente
Superfícies tratadas a quente
Superfícies tratadas a quente
Superfícies tratadas a quente
Superfícies tratadas a quente
Superfícies tratadas a quente
Aplicações adicionais
Aplicações adicionais

 

 

Aplicações adicionais

 

 

Aplicações adicionais

 

 

Aplicações adicionais
  • Para ambientes da Internet of Things (IoT) e da Indústria 4.0
  • Flanges, blocos de motor, eixos, engrenagens, trens de pouso, ensaio em cilindros, bobinas, barras, tubos e tratamento térmico

 

Aplicações adicionais

 

 

Automotivo
Automotivo
Aeroespacial
Aeroespacial
Trabalhos acadêmicos, pesquisa e educação
Trabalhos acadêmicos, pesquisa e educação
Energia
Energia
Produção e maquinário
Produção e maquinário
Óleo e Gás
Óleo e Gás
Estradas de ferro
Estradas de ferro
Equotip 550 UCI
Equotip 550 Portable Rockwell
Equotip 550 Leeb
Equotip Live Leeb D
Equotip Piccolo / Bambino 2
Firmware do instrumento
Firmware do instrumento
  • Visualização de perfil
  • Calibração em um único passo
  • Compensação automática para a direção do impacto
  • Perfis de usuários e visualizações personalizadas
  • Integração em ambientes de ensaio automatizados (incl. controle remoto)
  • Suporta 11 idiomas e fusos horários
Firmware do instrumento
  • Perfis de usuários e visualizações personalizadas
  • Integração em ambientes de ensaio automatizados (incl. controle remoto)
  • Suporta 11 idiomas e fusos horários
Firmware do instrumento
  • Compensação automática para a direção do impacto
  • Perfis de usuários e visualizações personalizadas
  • Integração em ambientes de ensaio automatizados (incl. controle remoto)
  • Suporta 11 idiomas e fusos horários
Firmware do instrumento
  • Aplicativo iOS incluindo atualizações gratuitas
  • Teclas com atalhos pré-definidos
  • Saída de áudio para as medições permitem que se mantenha o dispositivo móvel no bolso
  • Guias na tela
  • Compensação automática para a direção do impacto
  • Verificação e informações de calibração para maior confiabilidade
Firmware do instrumento
  • Compensação automática para a direção do impacto
  • Integração em ambientes de ensaio automatizados (incl. controle remoto): Apenas Equotip Piccolo 2
  • Independente de idioma
PC Software
PC Software

Equotip Link permite relatórios diretos e personalizados

PC Software

Equotip Link permite relatórios diretos e personalizados

PC Software

Equotip Link permite relatórios diretos e personalizados

PC Software

Solução Equotip Live baseado em navegador da web

PC Software

Software Piccolink (apenas Equotip Piccolo 2)

Display
Display

Robusta unidade de leitura de dados com tela touchscreen de 7” colorida (800 x 480 pixels) com processador dual core

Display

Robusta unidade de leitura de dados com tela touchscreen de 7” colorida (800 x 480 pixels) com processador dual core

Display

Robusta unidade de leitura de dados com tela touchscreen de 7” colorida (800 x 480 pixels) com processador dual core

Display

Qualquer dispositivo iOS (não fornecido)

Display

Monocromático de 4 dígitos

Firmware do instrumento
Firmware do instrumento

Memória flash interna 8 GB (> 1.000.000 medições)

Firmware do instrumento

Memória flash interna 8 GB (> 1.000.000 medições)

Firmware do instrumento

Memória flash interna 8 GB (> 1.000.000 medições)

Firmware do instrumento

Memória do dispositivo iOS

Firmware do instrumento

32 KB (~ 2.000 medições) (apenas o Equotip Piccolo 2)

Conexões
Conexões

Host USB / dispositivo USB e Ethernet

Conexões

Host USB / dispositivo USB e Ethernet

Conexões

Host USB / dispositivo USB e Ethernet

Conexões

USB para carregar e atualizações

Conexões

Interface USB para PC

Equotip 550 UCI
Equotip 550 Portable Rockwell
Equotip 550 Leeb
Equotip Live Leeb D
Equotip Piccolo / Bambino 2
Padrões
Padrões
  • DIN 50159
  • ASTM A 1038
Padrões
  • DIN 50157
Padrões
  • ASTM A 956
  • ASTM E 140
  • ASTM A 370
  • ISO 16859
  • DIN 50156
  • GB/T 17394
  • JB/T 9378
Padrões
  • ASTM A 956
  • ASTM E 140
  • ASTM A 370
  • ISO 16859
  • JB/T 9378
  • GB/T 17394
  • DIN 50156
Padrões
  • ASTM A 956
  • ASTM E 140
  • ASTM A 370
  • ISO 16859
  • DIN 50156
  • GB/T 17394
  • JB/T 9378
Diretrizes
Diretrizes
  • ASME CRTD-91
  • Diretriz MC 1 DGZfP
  • Diretriz VDI / VDE 2616 Documento 1
  • Nordtest Technical Reports 424-1, 424-2, 424-3
Diretrizes
  • Diretriz MC 1 DGZfP
  • Diretriz VDI / VDE 2616 Documento 1
  • Nordtest Technical Reports 424-1, 424-2, 424-3
Diretrizes
  • ASME CRTD-91
  • Diretriz MC 1 DGZfP
  • Diretriz VDI / VDE 2616 Documento 1
  • Nordtest Technical Reports 424-1, 424-2, 424-3
Diretrizes
  • ASME CRTD-91
  • Diretriz MC 1 DGZfP
  • Diretriz VDI / VDE 2616 Documento 1
  • Nordtest Technical Reports 424-1, 424-2, 424-3
Diretrizes
  • ASME CRTD-91
  • Diretriz MC 1 DGZfP
  • Diretriz VDI / VDE 2616 Documento 1
  • Nordtest Technical Reports 424-1, 424-2, 424-3
Equotip 550 UCI
Equotip 550 Portable Rockwell
Equotip 550 Leeb
Equotip Live Leeb D
Equotip Piccolo / Bambino 2
Acessórios de medição
Acessórios de medição
  • Sonda Equotip UCI HV1-HV5 (356 00 700)
  • Base especial do Equotip UCI (356 00 720)
  • Bateria completa (327 01 033)
  • Carregador rápido (externo) (327 01 053)
  • Kits 2-em-1 Ofertas especiais: Kit Equotip 550 Portable Rockwell & UCI (356 10 020), Kit Equotip 550 Leeb D & UCI (356 10 022)
Acessórios de medição
  • Sonda Equotip Portable Rockwell 50N (para Equotip 550 ou PC) (356 00 600)
  • Alicate de medição Equotip Portable Rockwell (354 01 200)
  • Base especial Equotip Portable Rockwell RZ 18 - 70 (354 01 250)
  • Base especial Equotip Portable Rockwell RZ 70 - ∞ (354 01 253)
  • Bateria completa (327 01 033)
  • Carregador rápido (externo) (327 01 053)
  • Kits 2-em-1 Ofertas especiais: Kit Equotip 550 Portable Rockwell & UCI (356 10 020), Kit Equotip 550 Portable Rockwell & Leeb D (356 10 021)
Acessórios de medição
  • Dispositivo de impacto Equotip Leeb D (356 00 100)
  • Dispositivo de impacto Equotip Leeb E (356 00 400)
  • Dispositivo de impacto Equotip Leeb G (356 00 300)
  • Kit de anéis de suporte (353 03 000)
  • Bateria completa (327 01 033)
  • Carregador rápido (externo) (327 01 053)
  • Kits 2-em-1 Ofertas especiais: Kit Equotip 550 Portable Rockwell & Leeb D (356 10 021), Kit Equotip 550 Leeb D & UCI (356 10 022)
Acessórios de medição
  • Dispositivo de impacto Equotip Live Leeb D (358 00 101)
  • Kit de anéis de suporte (353 03 000)
Acessórios de medição
  • Kit de acessórios Equotip Piccolo 2/Bambino 2 DL (352 95 021)
  • Kit de anéis de suporte (353 03 000)
Acessórios de verificação
Acessórios de verificação

Bloco de teste Equotip UCI ~850HV, ISO 6507- 3 calibração HV5 (357 54 100)

Acessórios de verificação

Bloco de teste Equotip Rockwell Portátil ~62 HRC, ISO 6508-3 calibração HRC (357 44 100)

Acessórios de verificação
  • Bloco de teste Equotip E, ~810 HLE / ~63 HRC (357 14 400)
  • Bloco de teste Equotip G, ~570 HLG / ~340 HB (357 32 300)
  • Bloco de teste Equotip D/DC, ~775 HLD / ~56 HRC (357 13 100)
Acessórios de verificação

Bloco de teste Equotip D/DC, ~775 HLD / ~56 HRC, Calibrações de fábrica pela Proceq (357 13 100)

Acessórios de verificação

Bloco de teste Equotip D/DC, ~775 HLD / ~56 HRC, Calibrações de fábrica pela Proceq (357 13 100)

Equotip 550 UCI
Equotip 550 Portable Rockwell
Equotip 550 Leeb
Equotip Live Leeb D
Equotip Piccolo / Bambino 2
Documentos
Documentos
Documentos
Documentos
Documentos
Documentos
Software
Software
Software
Software
Software
Software
Midia
Midia
Midia
Midia
Midia
Midia
Equotip 550 UCI
Equotip 550 Portable Rockwell
Equotip 550 Leeb
Equotip Live Leeb D
Equotip Piccolo / Bambino 2
Vídeos de produtos