
Equotip 便携式金属硬度检测仪,里氏 (Leeb)、洛氏 (Rockwell) 和超声波接触阻抗(UCI)
打破固定台式硬度检测的局限性
Proceq 的 Equotip 可对几乎任何物体、抛光部件及热处理表面进行检测。使用动态回弹检测方法(依照 Leeb)、静态 Portable Rockwell 硬度检测和超声波接触阻抗 (UCI) 方法进行硬度测量。这一瑞士制造的硬度检测仪外壳坚固,设计为在实验室、工场、生产设备或现场进行便携式硬度检测。这款来自 Proceq 的全新上市的产品带来 Equotip Live 最In 解决方案:使用蓝牙与 iOS 应用连接和最先进的同步技术。
自 Proceq 在 1975 年发明了 Leeb 测量原理以来,Equotip 已经成为便携式硬度检测方面被全球广泛认可的测量技术和实际的行业标准。可选择不同量程范围冲击装置和测试块及配件,涵盖了绝大部分应用。
![]() Equotip Live UCI |
![]() Equotip Live Leeb D |
![]() Equotip 550 Leeb |
![]() Equotip 550 Portable Rockwell |
![]() Equotip 550 UCI |
![]() Equotip Piccolo / Bambino 2 |
Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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产品描述 |
产品描述
Equotip Live UCI 便携式硬度测量计让团队间的合作变得无比便捷。Equotip iOS app为您即时记录和分析测量数据并且随时分享给您远程的团队。 |
产品描述
随着无线EquotipLive Leeb D 型冲击装置和直观的Equotip程序你可以测量和收集任何硬度数据表。通过自动同步功能启用数据的全局传输,并且可以通过电子邮件和其他渠道共享报告。功能包括一个安全的网络平台–live.proceq.com–集中报告模板和档案管理,以及完整的数据跟踪,记录和连续的云备份防止数据丢失。Equotip Live 所有权是为最初的设立捐款和每月的小额费用提供的——这保留了商业资本,同时允许精确的现金流管理。该软件包包括免费应用程序和更新,加上云备份,以及更换成本低。 |
产品描述
功能齐全的里氏硬度检测仪适用于重型、大型或已安装部件的现场检测。坚固的触摸屏设计提供卓越的用户体验以及最高质量的测量和数据分析。增强的软件功能和分析功能。 |
产品描述
用于刮擦敏感、抛光及细小部件的便携洛氏硬度检测仪。它通过微米级的细小穿透,具有卓越的灵敏度。坚固的触摸屏带有增强的软件应用和分析功能。 |
产品描述
灵活的 UCI 硬度检测仪用于具有任何形状和热处理表面的细粒材料。获得专利的可调节检测,可负载和涵盖广泛的测试范围。坚固的触摸屏带有增强的软件应用和分析功能。 |
产品描述
结构小巧、外壳坚固的高集成一体式里氏 硬度检测仪。非常适合快速现场硬度检测。为狭窄空间和凹面提供可选的 DL 探头。Equotip Piccolo 2 可将数据传送至电脑。 |
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优势 |
优势
![]() 无线 UCI 探头 ![]() 即时分享您的测量和报告 ![]() 实现完整数据可追溯性的记录表 |
优势
![]() 无线冲击装置和简洁的用户界面 ![]() 轻松地在世界范围内实时共享测量和报告 ![]() 全数据的可追溯性记录和媒体添加 |
优势
![]() 可使用完整的 Leeb 探头包,并与 Portable Rockwell 和 UCI 相结合 ![]() 具有所有 Equotip 产品倍受肯定的高精度 ![]() 内置强大的报告功能,随时准备好可用的数据资料 |
优势
![]() 与 Leeb 和 UCI 相结合 ![]() 与固定式 Rockwell 硬度检测仪同样可靠、准确和标准化,但比之更快 ![]() 内置强大的报告功能,随时准备好可用的数据资料 |
优势
![]() 与 Leeb 和 Portable Rockwell 相结合 ![]() 屏幕反馈以减少由操作员引起的测量误差 ![]() 内置强大的报告功能,随时准备好可用的数据资料 |
优势
![]() 快速现场检测的入门级型号 ![]() 紧凑外壳和自动角度纠正便于灵活使用 ![]() 具有所有 Equotip 产品倍受肯定的高精度 |
默认单位 |
默认单位
HV (UCI) |
默认单位
HL |
默认单位
HL |
默认单位
μm, µinch |
默认单位
HV (UCI) |
默认单位
HL |
可用单位 |
可用单位
HB, HV, HLD, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, MPA |
可用单位
HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA |
可用单位
HB,HV,HRA,HRB,HRC,HS,MPA |
可用单位
HB, HV, HRA, HRB, HRC, R15N, HR15T, HMMRC, MPA |
可用单位
HB, HV, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, MPA |
可用单位
HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA(仅 Equotip Piccolo 2) |
可用探头 |
可用探头
具有从 HV1 至 HV10 可调节测试负载的通用探头 |
可用探头
Leeb D |
可用探头
Leeb D / DC / DL / S / E / G / C |
可用探头
Portable Rockwell (50N) |
可用探头
UCI(可调节 HV1 – HV10) |
可用探头
Leeb D / DL |
与其他方法相结合 |
与其他方法相结合
否 |
与其他方法相结合
|
与其他方法相结合
Portable Rockwell,UCI |
与其他方法相结合
Leeb,UCI |
与其他方法相结合
Leeb,Portable Rockwell |
与其他方法相结合
|
平均粗糙度 Ra (µm / µinch) |
平均粗糙度 Ra (µm / µinch)
12.5 / 500 |
平均粗糙度 Ra (µm / µinch)
2 / 80 |
平均粗糙度 Ra (µm / µinch)
7 / 275 (Leeb G) |
平均粗糙度 Ra (µm / µinch)
2 / 80 |
平均粗糙度 Ra (µm / µinch)
12.5 / 500 |
平均粗糙度 Ra (µm / µinch)
2 / 80 |
最小质量 (kg/lbs) |
最小质量 (kg/lbs)
0.3 / 0.66 |
最小质量 (kg/lbs)
0.05 / 0.2 |
最小质量 (kg/lbs)
0.02 / 0.045 (Leeb C) |
最小质量 (kg/lbs)
无要求 |
最小质量 (kg/lbs)
0.3 / 0.66 |
最小质量 (kg/lbs)
0.05 / 0.2 |
最小厚度 (mm/inch) |
最小厚度 (mm/inch)
5 / 0.2 |
最小厚度 (mm/inch)
3 / 0.12 |
最小厚度 (mm/inch)
1 / 0.04 (Leeb C) |
最小厚度 (mm/inch)
10 x 压入深度 |
最小厚度 (mm/inch)
5 / 0.2 |
最小厚度 (mm/inch)
3 / 0.12 |
Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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标准到大对象 |
标准到大对象
|
标准到大对象
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标准到大对象
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标准到大对象
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标准到大对象
|
标准到大对象
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圆形对象 |
圆形对象
|
圆形对象
与支撑环结合使用
|
圆形对象
与支撑环结合使用
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圆形对象
与特别支撑底座联合使用
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圆形对象
|
圆形对象
与支撑环结合使用
|
轻薄对象 ( <2kg) |
轻薄对象 ( <2kg)
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轻薄对象 ( <2kg)
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轻薄对象 ( <2kg)
带有冲击装置 Leeb C
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轻薄对象 ( <2kg)
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轻薄对象 ( <2kg)
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轻薄对象 ( <2kg)
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非常坚硬的对象 |
非常坚硬的对象
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非常坚硬的对象
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非常坚硬的对象
带有冲击装置 Leeb S 和 E
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非常坚硬的对象
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非常坚硬的对象
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非常坚硬的对象
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铸件 |
铸件
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铸件
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铸件
带有冲击装置 Leeb G 和 D
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铸件
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铸件
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铸件
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抛光的对象 |
抛光的对象
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抛光的对象
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抛光的对象
带有冲击装置 Leeb C
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抛光的对象
|
抛光的对象
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抛光的对象
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不易接触 |
不易接触
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不易接触
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不易接触
带有冲击装置 Leeb DC 和 DL
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不易接触
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不易接触
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不易接触
带有冲击装置 Leeb DL
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细小对象 ( <5mm) |
细小对象 ( <5mm)
|
细小对象 ( <5mm)
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细小对象 ( <5mm)
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细小对象 ( <5mm)
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细小对象 ( <5mm)
|
细小对象 ( <5mm)
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热处理表面 |
热处理表面
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热处理表面
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热处理表面
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热处理表面
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热处理表面
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热处理表面
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其他应用 |
其他应用
|
其他应用
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其他应用
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其他应用
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其他应用
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其他应用
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Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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仪器固件 |
仪器固件
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仪器固件
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仪器固件
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仪器固件
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仪器固件
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仪器固件
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PC 软件 |
PC 软件
基于浏览器的 Equotip Live 解决方案 |
PC 软件
基于浏览器的 Equotip Live 解决方案 |
PC 软件
Equotip Link 可提供直接报告和自定义报告 |
PC 软件
Equotip Link 可提供直接报告和自定义报告 |
PC 软件
Equotip Link 可提供直接报告和自定义报告 |
PC 软件
Piccolink 软件(仅 Equotip Piccolo 2) |
显示屏 |
显示屏
任何 iOS 设备(交货时并未包括) |
显示屏
任何 iOS 设备(交货时并未包括) |
显示屏
7“带双核处理器的彩色坚固的触摸屏装置(800×480像素) |
显示屏
7“带双核处理器的彩色坚固的触摸屏装置(800×480像素) |
显示屏
7”坚固的彩色触摸屏装置(800 x 480 像素),双核处理器 |
显示屏
单色 4 位数字 |
内存 |
内存
iOS 设备的内存 |
内存
iOS 设备的内存 |
内存
内置 8 GB 闪存(> 1000000 个测量值) |
内存
内置 8 GB 闪存(> 1000000 个测量值) |
内存
内置 8 GB 闪存(> 1000000 个测量值) |
内存
32 KB(大约 2000 个读数)(仅限 Equotip Piccolo 2) |
连接 |
连接
用于充电和更新的 USB |
连接
用于充电和更新的USB |
连接
USB 主机/设备和以太网 |
连接
USB 主机/设备和以太网 |
连接
USB 主机/设备和以太网 |
连接
至 PC 的 USB 接口 |
测量范围 |
测量范围
20 – 2000 HV |
测量范围
150 - 950 HL |
测量范围
150 – 950 HL |
测量范围
0-100 µm;19-70 HRC;35-1‘000 HV |
测量范围
20 – 2000 HV |
测量范围
150 - 950 HL |
测量精度 |
测量精度
± 2% (150 – 950 HV) |
测量精度
± 4 HL(800 HL 时为 0.5%) |
测量精度
± 4 HL(800 HL 时为 0.5%) |
测量精度
± 0.8 µm; ~ ± 1.0 HRC |
测量精度
± 2% (150 – 950 HV) |
测量精度
± 4 HL(800 HL 时为 0.5%) |
Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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标准 |
标准
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标准
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标准
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标准
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标准
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标准
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准则 |
准则
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准则
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准则
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准则
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准则
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准则
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Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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测量配件 |
测量配件
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测量配件
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测量配件
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测量配件
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测量配件
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测量配件
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验证工具 |
验证工具
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验证工具
Equotip 测试块 D/DC,~775 HLD / ~56 HRC,Proceq 出厂校准 (357 13 100) |
验证工具
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验证工具
Equotip Portable Rockwell 测试块 ~62 HRC,ISO 6508-3 HRC 校准 (357 44 100) |
验证工具
Equotip UCI 测试块 ~850HV,ISO 6507-3 HV5 校准 (357 54 100) |
验证工具
Equotip 测试块 D/DC,~775 HLD / ~56 HRC,Proceq 出厂校准 (357 13 100) |
Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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文档 |
文档
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文档
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文档
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文档
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文档
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文档
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软件 |
软件
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软件
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软件
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软件
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软件
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软件
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媒体 |
媒体
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媒体
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媒体
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媒体
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媒体
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媒体
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