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Equotip 便携式硬度检测仪

Equotip 便携式金属硬度检测仪,里氏 (Leeb)、洛氏 (Rockwell) 和超声波接触阻抗(UCI)

Equotip 便携式硬度检测仪

打破固定台式硬度检测的局限性

Proceq 的 Equotip 可对几乎任何物体、抛光部件及热处理表面进行检测。使用动态回弹检测方法(依照 Leeb)、静态 Portable Rockwell 硬度检测和超声波接触阻抗 (UCI) 方法进行硬度测量。这一瑞士制造的硬度检测仪外壳坚固,设计为在实验室、工场、生产设备或现场进行便携式硬度检测。这款来自 Proceq 的全新上市的产品带来 Equotip Live 最In 解决方案:使用蓝牙与 iOS 应用连接和最先进的同步技术。

自 Proceq 在 1975 年发明了 Leeb 测量原理以来,Equotip 已经成为便携式硬度检测方面被全球广泛认可的测量技术和实际的行业标准。可选择不同量程范围冲击装置和测试块及配件,涵盖了绝大部分应用。 

Equotip Live UCI
Equotip Live Leeb D
Equotip 550 UCI
Equotip 550 Portable Rockwell
Equotip 550 Leeb
Equotip Piccolo / Bambino 2
产品描述
产品描述

Equotip Live UCI 便携式硬度测量计让团队间的合作变得无比便捷。Equotip iOS app为您即时记录和分析测量数据并且随时分享给您远程的团队。

产品描述

随着无线EquotipLive Leeb D 型冲击装置和直观的Equotip程序你可以测量和收集任何硬度数据表。通过自动同步功能启用数据的全局传输,并且可以通过电子邮件和其他渠道共享报告。功能包括一个安全的网络平台–live.proceq.com–集中报告模板和档案管理,以及完整的数据跟踪,记录和连续的云备份防止数据丢失。Equotip Live 所有权是为最初的设立捐款和每月的小额费用提供的——这保留了商业资本,同时允许精确的现金流管理。该软件包包括免费应用程序和更新,加上云备份,以及更换成本低。 

产品描述

灵活的 UCI 硬度检测仪用于具有任何形状和热处理表面的细粒材料。获得专利的可调节检测,可负载和涵盖广泛的测试范围。坚固的触摸屏带有增强的软件应用和分析功能。 

产品描述

用于刮擦敏感、抛光及细小部件的便携洛氏硬度检测仪。它通过微米级的细小穿透,具有卓越的灵敏度。坚固的触摸屏带有增强的软件应用和分析功能。 

产品描述

功能齐全的里氏硬度检测仪适用于重型、大型或已安装部件的现场检测。坚固的触摸屏设计提供卓越的用户体验以及最高质量的测量和数据分析。增强的软件功能和分析功能。

产品描述

结构小巧、外壳坚固的高集成一体式里氏 硬度检测仪。非常适合快速现场硬度检测。为狭窄空间和凹面提供可选的 DL 探头。Equotip Piccolo 2 可将数据传送至电脑。 

优势
优势
无线 UCI 探头

无线 UCI 探头

即时分享您的测量和报告

即时分享您的测量和报告

实现完整数据可追溯性的记录表

实现完整数据可追溯性的记录表

优势
无线冲击装置和简洁的用户界面

无线冲击装置和简洁的用户界面

轻松地在世界范围内实时共享测量和报告

轻松地在世界范围内实时共享测量和报告

全数据的可追溯性记录和媒体添加

全数据的可追溯性记录和媒体添加

优势
与 Leeb 和 Portable Rockwell 相结合

与 Leeb 和 Portable Rockwell 相结合

屏幕反馈以减少由操作员引起的测量误差

屏幕反馈以减少由操作员引起的测量误差

内置强大的报告功能,随时准备好可用的数据资料

内置强大的报告功能,随时准备好可用的数据资料

优势
与 Leeb 和 UCI 相结合

与 Leeb 和 UCI 相结合

与固定式 Rockwell 硬度检测仪同样可靠、准确和标准化,但比之更快

与固定式 Rockwell 硬度检测仪同样可靠、准确和标准化,但比之更快

内置强大的报告功能,随时准备好可用的数据资料

内置强大的报告功能,随时准备好可用的数据资料

优势
可使用完整的 Leeb 探头包,并与 Portable Rockwell 和 UCI 相结合

可使用完整的 Leeb 探头包,并与 Portable Rockwell 和 UCI 相结合

具有所有 Equotip 产品倍受肯定的高精度

具有所有 Equotip 产品倍受肯定的高精度

内置强大的报告功能,随时准备好可用的数据资料

内置强大的报告功能,随时准备好可用的数据资料

优势
快速现场检测的入门级型号

快速现场检测的入门级型号

紧凑外壳和自动角度纠正便于灵活使用

紧凑外壳和自动角度纠正便于灵活使用

具有所有 Equotip 产品倍受肯定的高精度

具有所有 Equotip 产品倍受肯定的高精度

默认单位
默认单位

HV (UCI)

默认单位

HL

默认单位

HV (UCI)

默认单位

μm, µinch

默认单位

HL

默认单位

HL

可用单位
可用单位

HB, HV, HLD, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, MPA

可用单位

HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA

可用单位

HB, HV, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, MPA

可用单位

HB, HV, HRA, HRB, HRC, R15N, HR15T, HMMRC, MPA

可用单位

HB,HV,HRA,HRB,HRC,HS,MPA

可用单位

HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA(仅 Equotip Piccolo 2)

可用探头
可用探头

具有从 HV1 至 HV10 可调节测试负载的通用探头

可用探头

Leeb D

可用探头

UCI(可调节 HV1 – HV5)

可用探头

Portable Rockwell (50N)

可用探头

Leeb D / DC / DL / S / E / G / C

可用探头

Leeb D / DL

与其他方法相结合
与其他方法相结合

与其他方法相结合
与其他方法相结合

Leeb,Portable Rockwell

与其他方法相结合

Leeb,UCI

与其他方法相结合

Portable Rockwell,UCI

与其他方法相结合
平均粗糙度 Ra (µm / µinch)
平均粗糙度 Ra (µm / µinch)

12.5 / 500

平均粗糙度 Ra (µm / µinch)

2 / 80

平均粗糙度 Ra (µm / µinch)

12.5 / 500

平均粗糙度 Ra (µm / µinch)

2 / 80

平均粗糙度 Ra (µm / µinch)

7 / 275 (Leeb G)

平均粗糙度 Ra (µm / µinch)

2 / 80

最小质量 (kg/lbs)
最小质量 (kg/lbs)

0.3 / 0.66

最小质量 (kg/lbs)

0.05 / 0.2

最小质量 (kg/lbs)

0.3 / 0.66

最小质量 (kg/lbs)

无要求

最小质量 (kg/lbs)

0.02 / 0.045 (Leeb C)

最小质量 (kg/lbs)

0.05 / 0.2

最小厚度 (mm/inch)
最小厚度 (mm/inch)

5 / 0.2

最小厚度 (mm/inch)

3 / 0.12

最小厚度 (mm/inch)

5 / 0.2

最小厚度 (mm/inch)

10 x 压入深度

最小厚度 (mm/inch)

1 / 0.04 (Leeb C)

最小厚度 (mm/inch)

3 / 0.12

Equotip Live UCI
Equotip Live Leeb D
Equotip 550 UCI
Equotip 550 Portable Rockwell
Equotip 550 Leeb
Equotip Piccolo / Bambino 2
标准到大对象
标准到大对象
标准到大对象
标准到大对象
标准到大对象
标准到大对象
标准到大对象
圆形对象
圆形对象
圆形对象
与支撑环结合使用
圆形对象
圆形对象
圆形对象
与支撑环结合使用
圆形对象
与支撑环结合使用
轻薄对象
轻薄对象
轻薄对象
轻薄对象
轻薄对象
轻薄对象
带有冲击装置 Leeb C
轻薄对象
非常坚硬的对象
非常坚硬的对象
非常坚硬的对象
非常坚硬的对象
非常坚硬的对象
非常坚硬的对象
带有冲击装置 Leeb S 和 E
非常坚硬的对象
铸件
铸件
铸件
铸件
铸件
铸件
带有冲击装置 Leeb G
铸件
抛光的对象
抛光的对象
抛光的对象
抛光的对象
抛光的对象
抛光的对象
带有冲击装置 Leeb C
抛光的对象
不易接触
不易接触
不易接触
不易接触
不易接触
不易接触
带有冲击装置 Leeb DC 和 DL
不易接触
带有冲击装置 Leeb DL
细小对象
细小对象
细小对象
细小对象
细小对象
细小对象
细小对象
热处理表面
热处理表面
热处理表面
热处理表面
热处理表面
热处理表面
热处理表面
其他应用
其他应用

 

 

其他应用
  • 适合物联网 (IoT) 和工业 4.0 环境
  • 法兰, 发动机组, 轴, 齿轮, 起落架, 纸卷检测, 线圈, 钢筋, 管道 与 热处理

 

其他应用

 

 

其他应用

 

 

其他应用

 

 

其他应用

 

 

Equotip Live UCI
Equotip Live Leeb D
Equotip 550 UCI
Equotip 550 Portable Rockwell
Equotip 550 Leeb
Equotip Piccolo / Bambino 2
仪器固件
仪器固件
  • iOS 应用包括免费更新(访问 live.proceq.com 以了解兼容性信息)
  • 带预定义快捷方式的热点
  • 读数的音频输出,将手机置于口袋亦可听到
  • 屏幕指南
  • 冲击方向自动补偿
  • 验证和校准信息以获得更高的可靠性
仪器固件
  • iOS应用程序,包括免费更新。
  • 访问live.proceq.com获取兼容性信息 。
  • 预定快捷键
  • 读数的音频输出,将手机置于口袋亦可听到
  • 屏幕指南
  • 冲击方向自动修正
  • 验证和校准信息以获得更高的可靠性
仪器固件
  • 剖面视图
  • 一步校准
  • 冲击方向自动补偿
  • 个性化用户资料和视图
  • 集成至自动测试环境中(包括远程控制)
  • 支持 11 种语言和时区
仪器固件
  • 个性化用户资料和视图
  • 集成至自动测试环境中(包括远程控制)
  • 支持 11 种语言和时区
仪器固件
  • 冲击方向自动修正
  • 个性化用户资料和视图
  • 集成至自动测试环境中(包括远程控制)
  • 支持 11 种语言和时区
仪器固件
  • 冲击方向自动修正
  • 集成至自动测试环境中(包括远程控制):仅 Equotip Piccolo 2
  • 无需设置语言
PC 软件
PC 软件

基于浏览器的 Equotip Live 解决方案

PC 软件

基于浏览器的 Equotip Live 解决方案

PC 软件

Equotip Link 可提供直接报告和自定义报告

PC 软件

Equotip Link 可提供直接报告和自定义报告

PC 软件

Equotip Link 可提供直接报告和自定义报告

PC 软件

Piccolink 软件(仅 Equotip Piccolo 2)

显示屏
显示屏

任何 iOS 设备(交货时并未包括)

显示屏

任何 iOS 设备(交货时并未包括)

显示屏

7”坚固的彩色触摸屏装置(800 x 480 像素),双核处理器

显示屏

7“带双核处理器的彩色坚固的触摸屏装置(800×480像素)

显示屏

7“带双核处理器的彩色坚固的触摸屏装置(800×480像素)

显示屏

单色 4 位数字

内存
内存

iOS 设备的内存

内存

iOS 设备的内存

内存

内置 8 GB 闪存(> 1000000 个测量值)

内存

内置 8 GB 闪存(> 1000000 个测量值)

内存

内置 8 GB 闪存(> 1000000 个测量值)

内存

32 KB(大约 2000 个读数)(仅限 Equotip Piccolo 2)

连接
连接

用于充电和更新的 USB

连接

用于充电和更新的USB

连接

USB 主机/设备和以太网

连接

USB 主机/设备和以太网

连接

USB 主机/设备和以太网

连接

至 PC 的 USB 接口

测量范围
测量范围

20 – 2000 HV

测量范围

150 - 950 HL

测量范围

20 – 2000 HV

测量范围

0-100 µm;19-70 HRC;35-1‘000 HV

测量范围

150 – 950 HL

测量范围

150 - 950 HL

测量精度
测量精度

± 2% (150 – 950 HV)

测量精度

± 4 HL(800 HL 时为 0.5%)

测量精度

± 2% (150 – 950 HV)

测量精度

± 0.8 µm; ~ ± 1.0 HRC

测量精度

± 4 HL(800 HL 时为 0.5%)

测量精度

± 4 HL(800 HL 时为 0.5%)

Equotip Live UCI
Equotip Live Leeb D
Equotip 550 UCI
Equotip 550 Portable Rockwell
Equotip 550 Leeb
Equotip Piccolo / Bambino 2
标准
标准
  • ASTM A 1038
  • ASTM E 140
  • DIN 50159
  • ISO 18265
  • GB/T 34205-2017
标准
  • ASTM A 956
  • ASTM E 140
  • ASTM A 370
  • ISO 16859
  • JB/T 9378
  • GB/T 17394
  • DIN 50156
标准
  • ASTM A 1038
  • ASTM E 140
  • DIN 50159
  • ISO 18265
  • GB/T 34205-2017
标准
  • DIN 50157
标准
  • ASTM A 956
  • ASTM E 140
  • ASTM A 370
  • ISO 16859
  • DIN 50156
  • GB/T 17394
  • JB/T 9378
标准
  • ASTM A 956
  • ASTM E 140
  • ASTM A 370
  • ISO 16859
  • DIN 50156
  • GB/T 17394
  • JB/T 9378
准则
准则
  • DGZfP 准则 MC 1
  • VDI / VDE 准则 2616 文件 1
  • ASME CRTD-91
准则
  • ASME CRTD-91
  • DGZfP 准则 MC 1
  • VDI / VDE 准则 2616 文件 1
  • Nordtest 技术报告 424-1, 424-2, 424-3
准则
  • ASME CRTD-91
  • DGZfP 准则 MC 1
  • VDI / VDE 准则 2616 文件 1
  • Nordtest 技术报告 424-1, 424-2, 424-3
准则
  • DGZfP 准则 MC 1
  • VDI / VDE 准则 2616 文件 1
  • Nordtest 技术报告 424-1, 424-2, 424-3
准则
  • ASME CRTD-91
  • DGZfP 准则 MC 1
  • VDI / VDE 准则 2616 文件 1
  • Nordtest 技术报告 424-1, 424-2, 424-3
准则
  • ASME CRTD-91
  • DGZfP 准则 MC 1
  • VDI / VDE 准则 2616 文件 1
  • Nordtest 技术报告 424-1, 424-2, 424-3
Equotip Live UCI
Equotip Live Leeb D
Equotip 550 UCI
Equotip 550 Portable Rockwell
Equotip 550 Leeb
Equotip Piccolo / Bambino 2
测量配件
测量配件
测量配件
  • Equotip Live Basic Leeb D 冲击装置 (358 00 101)
  • 支撑环组件 (353 03 000)
  • 适用于 D/DC/D+15/C/E/S 的支撑环组(12 件装)
测量配件
  • Equotip UCI 探头 HV1-HV5 (356 00 700)
  • Equotip UCI 特殊脚 (356 00 720)
  • 电池组 (327 01 033)
  • 快速充电器(外置)(327 01 053)
  • 特殊二合一套件: Equotip 550 Portable Rockwell & UCI 套件 (356 10 020), Equotip 550 Leeb D & UCI 套件 (356 10 022)
测量配件
  • Equotip Portable Rockwell 探头 50N(适用 于 Equotip 550 或 PC)(356 00 600)
  • Equotip Portable Rockwell 测量夹 (354 01 200)
  • Equotip Portable Rockwell Spezialfuss RZ 18 mm - 70 mm (354 01 250)
  • Equotip Portable Rockwell Spezialfuss RZ 70 mm - ∞ (354 01 253)
  • 电池组 (327 01 033)
  • 快速充电器(外置)(327 01 053)
  • 特殊二合一套件: Equotip 550 Portable Rockwell & UCI 套件 (356 10 020), Equotip 550 Portable Rockwell & Leeb D 套件 (356 10 021)
测量配件
  • Equotip Leeb 冲击装置 D (356 00 100)
  • Equotip Leeb 冲击装置 E (356 00 400)
  • Equotip Leeb 冲击装置 G (356 00 300)
  • 适用于 D/DC/D+15/C/E/S 的支撑环组(12 件装) (353 03 000)
  • 电池组 (327 01 033)
  • Equotip Leeb 冲击装置 S
  • Equotip Leeb 冲击装置 DL
  • 快速充电器(外置)(327 01 053)
  • 特殊二合一套件: Equotip 550 Portable Rockwell & Leeb D 套件 (356 10 021), Equotip 550 Leeb D & UCI 套件 (356 10 022)
测量配件
  • Equotip Piccolo 2/Bambino 2 DL 附件包 (352 95 021)
  • 支撑环组件 (353 03 000)
  • 适用于 D/DC/D+15/C/E/S 的支撑环组(12 件装)
验证工具
验证工具
验证工具

Equotip 测试块 D/DC,~775 HLD / ~56 HRC,Proceq 出厂校准 (357 13 100)

验证工具

Equotip UCI 测试块 ~850HV,ISO 6507-3 HV5 校准 (357 54 100)

验证工具

Equotip Portable Rockwell 测试块 ~62 HRC,ISO 6508-3 HRC 校准 (357 44 100)

验证工具
  • Equotip 测试块 E,<810 HLE / ~63 HRC (357 14 400)
  • Equotip 测试块 G,~570 HLG / ~340 HB (357 32 300)
  • Equotip 测试块 D/DC,<775 HLD / ~56 HRC (357 13 100)
验证工具

Equotip 测试块 D/DC,~775 HLD / ~56 HRC,Proceq 出厂校准 (357 13 100)

Equotip Live UCI
Equotip Live Leeb D
Equotip 550 UCI
Equotip 550 Portable Rockwell
Equotip 550 Leeb
Equotip Piccolo / Bambino 2
文档
文档
文档
文档
文档
文档
文档
软件
软件
软件
软件
软件
软件
软件
媒体
媒体
媒体
媒体
媒体
媒体
媒体
Equotip Live UCI
Equotip Live Leeb D
Equotip 550 UCI
Equotip 550 Portable Rockwell
Equotip 550 Leeb
Equotip Piccolo / Bambino 2