Dispositivos de ensayo de dureza de metal portátiles Equotip® Leeb, Rockwell y UCI
Supere las limitaciones de los ensayos de dureza estacionarios de banco
Los Equotip de Proceq permiten la inspección de prácticamente cualquier objeto, de piezas pulidas y superficies tratadas térmicamente. Las mediciones de dureza se realizan usando el método de ensayos de rebote dinámico según Leeb, el ensayo de dureza estática Portable Rockwell y el método de impedancia de contacto ultrasónica (UCI). Los robustos durómetros Swiss Made están diseñados para la ejecución de ensayos de dureza portátiles en el laboratorio, en el taller, en instalaciones de producción o en el emplazamiento. La innovación más reciente de Proceq es el Equotip Live que presenta un dispositivo de impacto inalámbrico, una aplicación móvil, datos en tiempo real y una función de copia de seguridad en nube.
Desde que Proceq inventó el principio de ensayos Leeb en 1975, Equotip se ha convertido en una técnica de medición reconocida a nivel global y, de hecho, en una norma industrial. Una amplia gama de diferentes dispositivos de impacto, así como una selección integral de bloques de ensayo y de accesorios cubren la mayoría de las aplicaciones.
Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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| Descripción |
Descripción
Equotip Live UCI creates new opportunities for collaboration in portable hardness testing. The Equotip iOS app allows you to conduct measurements at a remote location and provide instant access of your results to your team. |
Descripción
La primera solución de durómetro inalámbrico portátil plenamente IoT, con compartición de datos en tiempo real, copia de seguridad en nube e interfaz intuitiva de usuario. El dispositivo de impacto Leeb D ultraportátil Equotip Live es perfecto para usarlo en espacios confinados. |
Descripción
Versátil durómetro Leeb para la ejecución de ensayos de piezas pesadas, grandes o instaladas en el emplazamiento. Robusta pantalla táctil diseñada para proporcionar una extraordinaria experiencia de usuario y la medición y el análisis mejores posibles. Características del software y funciones de análisis mejoradas. Equotip 540 para uso regular periódico sin necesidad de crear de informes extensivos. |
Descripción
Durómetro Portable Rockwell para piezas sensibles a arañazos, pulidas y delgadas. Muestra excelente sensibilidad debido a la mínima penetración de unos pocos micrómetros. Robusta pantalla táctil con características del software y funciones de análisis mejoradas. |
Descripción
Versátil durómetro UCI para material de grano fino de cualquier forma y superficies tratadas térmicamente. La patentada carga de ensayo ajustable hace posible una amplia gama de aplicaciones. Robusta pantalla táctil con características del software y funciones de análisis mejoradas. Equotip 540 para uso regular periódico sin necesidad de crear de informes extensivos. |
Descripción
Durómetro Leeb, plenamente integrado y práctico, con una caja compacta y robusta. Apropiado en forma ideal para rápidos ensayos de dureza en el emplazamiento. Sonda DL opcional para espacios confinados y superficies rebajadas. El Equotip Piccolo 2 permite la transferencia de datos a un PC. |
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| Sus ventajas |
Sus ventajas
Wireless UCI probe 
Instantly share your measurements and reports 
Logbook for full data traceability |
Sus ventajas
Dispositivo de impacto inalámbrico e interfaz de usuario limpia
Sencillamente comparta sus mediciones e informes en tiempo real y en todo el mundo
Cuaderno de registros para plena trazabilidad de los datos y para agregar medios |
Sus ventajas
Use la gama completa de sondas Leeb y combine con Portable Rockwell y UCI 
Viene con la alta precisión conocida de todos los productos Equotip
Informes listos para usar debido a la potente característica de creación de informes incorporada |
Sus ventajas
Combine con Leeb y UCI 
Igualmente fiable, preciso y estandarizado, pero más rápido que los durómetros Rockwell estacionarios
Informes listos para usar debido a la potente característica de creación de informes incorporada |
Sus ventajas
Combine con Leeb y Portable Rockwell
Retroalimentación en pantalla para reducir inexactitudes de medición causadas por el operador
Informes listos para usar debido a la potente característica de creación de informes incorporada |
Sus ventajas
Modelo básico para rápidas pruebas en el emplazamiento
Caja robusta y corrección automática del ángulo permite un uso versátil
Viene con la alta precisión conocida de todos los productos Equotip |
| Escala nativa |
Escala nativa
HV (UCI) |
Escala nativa
HL |
Escala nativa
HL |
Escala nativa
μm, µin |
Escala nativa
HV (UCI) |
Escala nativa
HL |
| Escalas disponibles |
Escalas disponibles
HB, HV, HLD, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, MPA |
Escalas disponibles
HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA |
Escalas disponibles
HB, HV, HRA, HRB, HRC, HS, MPA |
Escalas disponibles
HB, HV, HRA, HRB, HRC, R15N, HR15T, HMMRC, MPA |
Escalas disponibles
HB, HV, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, MPA |
Escalas disponibles
HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA (sólo Equotip Piccolo 2) |
| Sondas disponibles |
Sondas disponibles
Universal probe with adjustable test load between HV1 and HV10 |
Sondas disponibles
Leeb D |
Sondas disponibles
Leeb D / DC / DL / S / E / G / C |
Sondas disponibles
Portable Rockwell (50N) |
Sondas disponibles
UCI (ajustable de HV1 a HV10) |
Sondas disponibles
Leeb D / DL |
| Combinación con otros métodos |
Combinación con otros métodos
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Combinación con otros métodos
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Combinación con otros métodos
Portable Rockwell, UCI |
Combinación con otros métodos
Leeb, UCI |
Combinación con otros métodos
Leeb, Portable Rockwell |
Combinación con otros métodos
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| Rugosidad promedio Ra (µm / µin) |
Rugosidad promedio Ra (µm / µin)
12.5 / 500 |
Rugosidad promedio Ra (µm / µin)
2 / 80 |
Rugosidad promedio Ra (µm / µin)
7 / 275 (Leeb G) |
Rugosidad promedio Ra (µm / µin)
2 / 80 |
Rugosidad promedio Ra (µm / µin)
12.5 / 500 |
Rugosidad promedio Ra (µm / µin)
2 / 80 |
| Masa mínima (kg / lbs) |
Masa mínima (kg / lbs)
0.3 / 0.66 |
Masa mínima (kg / lbs)
0.05 / 0.2 |
Masa mínima (kg / lbs)
0.02 / 0.045 (Leeb C) |
Masa mínima (kg / lbs)
Ningún requerimiento |
Masa mínima (kg / lbs)
0.3 / 0.66 |
Masa mínima (kg / lbs)
0.05 / 0.2 |
| Espesor mínimo (mm / in) |
Espesor mínimo (mm / in)
5 / 0.2 |
Espesor mínimo (mm / in)
3 / 0.12 |
Espesor mínimo (mm / in)
1 / 0.04 (Leeb C) |
Espesor mínimo (mm / in)
10 x profundidad de indentaciones |
Espesor mínimo (mm / in)
5 / 0.2 |
Espesor mínimo (mm / in)
3 / 0.12 |
Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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| Estándar para objetos grandes |
Estándar para objetos grandes
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Estándar para objetos grandes
|
Estándar para objetos grandes
|
Estándar para objetos grandes
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Estándar para objetos grandes
|
Estándar para objetos grandes
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| Objetos redondos |
Objetos redondos
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Objetos redondos
En combinación con anillos de soporte
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Objetos redondos
En combinación con anillos de soporte
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Objetos redondos
En combinación con un soporte especial
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Objetos redondos
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Objetos redondos
En combinación con anillos de soporte
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| Objetos ligeros ( <2kg) |
Objetos ligeros ( <2kg)
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Objetos ligeros ( <2kg)
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Objetos ligeros ( <2kg)
Con dispositivo de impacto Leeb C
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Objetos ligeros ( <2kg)
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Objetos ligeros ( <2kg)
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Objetos ligeros ( <2kg)
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| Objetos muy duros |
Objetos muy duros
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Objetos muy duros
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Objetos muy duros
Con dispositivos de impacto Leeb S y E
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Objetos muy duros
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Objetos muy duros
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Objetos muy duros
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| Objetos de fundición |
Objetos de fundición
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Objetos de fundición
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Objetos de fundición
Con dispositivos de impacto Leeb G y D
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Objetos de fundición
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Objetos de fundición
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Objetos de fundición
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| Objetos pulidos |
Objetos pulidos
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Objetos pulidos
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Objetos pulidos
Con dispositivo de impacto Leeb C
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Objetos pulidos
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Objetos pulidos
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Objetos pulidos
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| Accesibilidad limitada |
Accesibilidad limitada
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Accesibilidad limitada
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Accesibilidad limitada
Con dispositivos de impacto Leeb DC y DL
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Accesibilidad limitada
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Accesibilidad limitada
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Accesibilidad limitada
Con dispositivo de impacto Leeb DL
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| Objetos delgados ( <5mm) |
Objetos delgados ( <5mm)
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Objetos delgados ( <5mm)
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Objetos delgados ( <5mm)
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Objetos delgados ( <5mm)
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Objetos delgados ( <5mm)
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Objetos delgados ( <5mm)
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| Objetos delgados |
Objetos delgados
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Objetos delgados
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Objetos delgados
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Objetos delgados
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Objetos delgados
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Objetos delgados
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| Aplicaciones adicionales |
Aplicaciones adicionales
|
Aplicaciones adicionales
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Aplicaciones adicionales
|
Aplicaciones adicionales
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Aplicaciones adicionales
|
Aplicaciones adicionales
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Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
|---|
| Firmware del instrumento |
Firmware del instrumento
|
Firmware del instrumento
|
Firmware del instrumento
|
Firmware del instrumento
|
Firmware del instrumento
|
Firmware del instrumento
|
| Software de PC |
Software de PC
Webbrowser-based Equotip Live solution |
Software de PC
Solución Equotip Live basada en explorador web |
Software de PC
Equotip Link permitiendo la creación directa de informes e informes personalizados |
Software de PC
Equotip Link permitiendo la creación directa de informes e informes personalizados |
Software de PC
Equotip Link permitiendo la creación directa de informes e informes personalizados |
Software de PC
Software Piccolink (sólo Equotip Piccolo 2) |
| Pantalla |
Pantalla
Any compatible Apple® iPad (iOS 8.0 and higher) |
Pantalla
Cualquier dispositivo iOS (no está incluido en la entrega) |
Pantalla
Robusta unidad de pantalla táctil de color de 7" (800 x 480 píxeles) con procesador de doble núcleo |
Pantalla
Robusta unidad de pantalla táctil de color de 7" (800 x 480 píxeles) con procesador de doble núcleo |
Pantalla
Robusta unidad de pantalla táctil de color de 7" (800 x 480 píxeles) con procesador de doble núcleo |
Pantalla
Monocroma de 4 dígitos |
| Memoria |
Memoria
Memory of iOS device |
Memoria
Memoria del dispositivo iOS |
Memoria
Memoria flash interna de 8 GB (> 1’000’000 mediciones) |
Memoria
Memoria flash interna de 8 GB (> 1’000’000 mediciones) |
Memoria
Memoria flash interna de 8 GB (> 1’000’000 mediciones) |
Memoria
32 KB (~ 2’000 lecturas) (sólo Equotip Piccolo 2) |
| Conexiones |
Conexiones
USB for charging and updates |
Conexiones
USB para cargar y para actualizaciones |
Conexiones
USB Host / dispositivo y Ethernet |
Conexiones
USB Host / dispositivo y Ethernet |
Conexiones
USB Host / dispositivo y Ethernet |
Conexiones
Interfaz USB al PC |
| Rango de medición |
Rango de medición
20 – 2000 HV |
Rango de medición
150 a 950 HL |
Rango de medición
150 a 950 HL |
Rango de medición
0-100 µm; 19-70 HRC; 35-1‘000 HV |
Rango de medición
20 – 2000 HV |
Rango de medición
150 a 950 HL |
| Exactitud de medición |
Exactitud de medición
± 2% (150 – 950 HV) |
Exactitud de medición
± 4 HL (0.5% a 800 HL) |
Exactitud de medición
± 4 HL (0.5% a 800 HL) |
Exactitud de medición
± 0.8 µm; ~ ± 1.0 HRC |
Exactitud de medición
± 2% (150 a 950 HV) |
Exactitud de medición
± 4 HL (0.5% a 800 HL) |
Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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| Normas |
Normas
|
Normas
|
Normas
|
Normas
|
Normas
|
Normas
|
| Directivas |
Directivas
|
Directivas
|
Directivas
|
Directivas
|
Directivas
|
Directivas
|
Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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| Accesorios de medición |
Accesorios de medición
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Accesorios de medición
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Accesorios de medición
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Accesorios de medición
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Accesorios de medición
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Accesorios de medición
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| Accesorios para la verificación |
Accesorios para la verificación
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Accesorios para la verificación
Equotip Bloque de ensayo D/DC, ~775 HLD / ~56 HRC, Calibraciones de fábrica por Proceq (357 13 100) |
Accesorios para la verificación
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Accesorios para la verificación
Bloque de ensayo Equotip Portable Rockwell Calibración ~62 HRC, ISO 6508-3 HRC (357 44 100) |
Accesorios para la verificación
Bloque de ensayo Equotip UCI ~850HV, calibración ISO 6507-3 HV5 (357 54 100) |
Accesorios para la verificación
Equotip Bloque de ensayo D/DC, ~775 HLD / ~56 HRC, Calibraciones de fábrica por Proceq (357 13 100) |
Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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| Documentos |
Documentos
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Documentos
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Documentos
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Documentos
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Documentos
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Documentos
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| Software |
Software
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Software
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Software
|
Software
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Software
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Software
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| Medios |
Medios
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Medios
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Medios
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Medios
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Medios
|
Medios
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Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
|---|
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Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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