Dispositivos de ensayo de dureza de metal portátiles Equotip Leeb, Rockwell y UCI

Supere las limitaciones de los ensayos de dureza estacionarios de banco

Los Equotip de Proceq permiten la inspección de prácticamente cualquier objeto, de piezas pulidas y superficies tratadas térmicamente. Las mediciones de dureza se realizan usando el método de ensayos de rebote dinámico según Leeb, el ensayo de dureza estática Portable Rockwell y el método de impedancia de contacto ultrasónica (UCI). Los robustos durómetros Swiss Made están diseñados para la ejecución de ensayos de dureza portátiles en el laboratorio, en el taller, en instalaciones de producción o en el emplazamiento. La innovación más reciente de Proceq es el Equotip Live que presenta un dispositivo de impacto inalámbrico, una aplicación móvil, datos en tiempo real y una función de copia de seguridad en nube.

Desde que Proceq inventó el principio de ensayos Leeb en 1975, Equotip se ha convertido en una técnica de medición reconocida a nivel global y, de hecho, en una norma industrial. Una amplia gama de diferentes dispositivos de impacto, así como una selección integral de bloques de ensayo y de accesorios cubren la mayoría de las aplicaciones.

Modelos Aplicaciones Características Normalización Accesorio Descargas Videos

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Equotip Live UCI

Live Leeb D portable wireless metal hardness tester

Equotip Live Leeb D

Equotip 550 UCI

Equotip 550 Portable Rockwell

Equotip 550 Leeb

Equotip Piccolo / Bambino 2

Modelos

	Equotip Live UCI	Equotip Live Leeb D	Equotip 550 UCI	Equotip 550 Portable Rockwell	Equotip 550 Leeb	Equotip Piccolo / Bambino 2

Descripción	Descripción Equotip Live UCI creates new opportunities for collaboration in portable hardness testing. The Equotip iOS app allows you to conduct measurements at a remote location and provide instant access of your results to your team.	Descripción La primera solución de durómetro inalámbrico portátil plenamente IoT, con compartición de datos en tiempo real, copia de seguridad en nube e interfaz intuitiva de usuario. El dispositivo de impacto Leeb D ultraportátil Equotip Live es perfecto para usarlo en espacios confinados.	Descripción Versátil durómetro UCI para material de grano fino de cualquier forma y superficies tratadas térmicamente. La patentada carga de ensayo ajustable hace posible una amplia gama de aplicaciones. Robusta pantalla táctil con características del software y funciones de análisis mejoradas. Equotip 540 para uso regular periódico sin necesidad de crear de informes extensivos.	Descripción Durómetro Portable Rockwell para piezas sensibles a arañazos, pulidas y delgadas. Muestra excelente sensibilidad debido a la mínima penetración de unos pocos micrómetros. Robusta pantalla táctil con características del software y funciones de análisis mejoradas.	Descripción Versátil durómetro Leeb para la ejecución de ensayos de piezas pesadas, grandes o instaladas en el emplazamiento. Robusta pantalla táctil diseñada para proporcionar una extraordinaria experiencia de usuario y la medición y el análisis mejores posibles. Características del software y funciones de análisis mejoradas. Equotip 540 para uso regular periódico sin necesidad de crear de informes extensivos.	Descripción Durómetro Leeb, plenamente integrado y práctico, con una caja compacta y robusta. Apropiado en forma ideal para rápidos ensayos de dureza en el emplazamiento. Sonda DL opcional para espacios confinados y superficies rebajadas. El Equotip Piccolo 2 permite la transferencia de datos a un PC.
	Más información	Más información
Sus ventajas	Sus ventajas Wireless UCI probe Instantly share your measurements and reports Logbook for full data traceability	Sus ventajas Dispositivo de impacto inalámbrico e interfaz de usuario limpia Sencillamente comparta sus mediciones e informes en tiempo real y en todo el mundo Cuaderno de registros para plena trazabilidad de los datos y para agregar medios	Sus ventajas Combine con Leeb y Portable Rockwell Retroalimentación en pantalla para reducir inexactitudes de medición causadas por el operador Informes listos para usar debido a la potente característica de creación de informes incorporada	Sus ventajas Combine con Leeb y UCI Igualmente fiable, preciso y estandarizado, pero más rápido que los durómetros Rockwell estacionarios Informes listos para usar debido a la potente característica de creación de informes incorporada	Sus ventajas Use la gama completa de sondas Leeb y combine con Portable Rockwell y UCI Viene con la alta precisión conocida de todos los productos Equotip Informes listos para usar debido a la potente característica de creación de informes incorporada	Sus ventajas Modelo básico para rápidas pruebas en el emplazamiento Caja robusta y corrección automática del ángulo permite un uso versátil Viene con la alta precisión conocida de todos los productos Equotip
Escala nativa	Escala nativa HV (UCI)	Escala nativa HL	Escala nativa HV (UCI)	Escala nativa μm, µin	Escala nativa HL	Escala nativa HL
Escalas disponibles	Escalas disponibles HB, HV, HLD, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, MPA	Escalas disponibles HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA	Escalas disponibles HB, HV, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, MPA	Escalas disponibles HB, HV, HRA, HRB, HRC, R15N, HR15T, HMMRC, MPA	Escalas disponibles HB, HV, HRA, HRB, HRC, HS, MPA	Escalas disponibles HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA (sólo Equotip Piccolo 2)
Sondas disponibles	Sondas disponibles Universal probe with adjustable test load between HV1 and HV10	Sondas disponibles Leeb D	Sondas disponibles UCI (ajustable de HV1 a HV10)	Sondas disponibles Portable Rockwell (50N)	Sondas disponibles Leeb D / DC / DL / S / E / G / C	Sondas disponibles Leeb D / DL
Combinación con otros métodos	Combinación con otros métodos	Combinación con otros métodos	Combinación con otros métodos Leeb, Portable Rockwell	Combinación con otros métodos Leeb, UCI	Combinación con otros métodos Portable Rockwell, UCI	Combinación con otros métodos
Rugosidad promedio Ra (µm / µin)	Rugosidad promedio Ra (µm / µin) 12.5 / 500	Rugosidad promedio Ra (µm / µin) 2 / 80	Rugosidad promedio Ra (µm / µin) 12.5 / 500	Rugosidad promedio Ra (µm / µin) 2 / 80	Rugosidad promedio Ra (µm / µin) 7 / 275 (Leeb G)	Rugosidad promedio Ra (µm / µin) 2 / 80
Masa mínima (kg / lbs)	Masa mínima (kg / lbs) 0.3 / 0.66	Masa mínima (kg / lbs) 0.05 / 0.2	Masa mínima (kg / lbs) 0.3 / 0.66	Masa mínima (kg / lbs) Ningún requerimiento	Masa mínima (kg / lbs) 0.02 / 0.045 (Leeb C)	Masa mínima (kg / lbs) 0.05 / 0.2
Espesor mínimo (mm / in)	Espesor mínimo (mm / in) 5 / 0.2	Espesor mínimo (mm / in) 3 / 0.12	Espesor mínimo (mm / in) 5 / 0.2	Espesor mínimo (mm / in) 10 x profundidad de indentaciones	Espesor mínimo (mm / in) 1 / 0.04 (Leeb C)	Espesor mínimo (mm / in) 3 / 0.12

Aplicaciones

	Equotip Live UCI	Equotip Live Leeb D	Equotip 550 UCI	Equotip 550 Portable Rockwell	Equotip 550 Leeb	Equotip Piccolo / Bambino 2

Estándar para objetos grandes	Estándar para objetos grandes	Estándar para objetos grandes	Estándar para objetos grandes	Estándar para objetos grandes	Estándar para objetos grandes	Estándar para objetos grandes
Objetos redondos	Objetos redondos	Objetos redondos En combinación con anillos de soporte	Objetos redondos	Objetos redondos	Objetos redondos En combinación con anillos de soporte	Objetos redondos En combinación con anillos de soporte
Objetos ligeros	Objetos ligeros	Objetos ligeros	Objetos ligeros	Objetos ligeros	Objetos ligeros Con dispositivo de impacto Leeb C	Objetos ligeros
Objetos muy duros	Objetos muy duros	Objetos muy duros	Objetos muy duros	Objetos muy duros	Objetos muy duros Con dispositivos de impacto Leeb S y E	Objetos muy duros
Objetos de fundición	Objetos de fundición	Objetos de fundición	Objetos de fundición	Objetos de fundición	Objetos de fundición Con dispositivo de impacto Leeb G	Objetos de fundición
Objetos pulidos	Objetos pulidos	Objetos pulidos	Objetos pulidos	Objetos pulidos	Objetos pulidos Con dispositivo de impacto Leeb C	Objetos pulidos
Accesibilidad limitada	Accesibilidad limitada	Accesibilidad limitada	Accesibilidad limitada	Accesibilidad limitada	Accesibilidad limitada Con dispositivos de impacto Leeb DC y DL	Accesibilidad limitada Con dispositivo de impacto Leeb DL
Objetos delgados	Objetos delgados	Objetos delgados	Objetos delgados	Objetos delgados	Objetos delgados	Objetos delgados
Objetos delgados	Objetos delgados	Objetos delgados	Objetos delgados	Objetos delgados	Objetos delgados	Objetos delgados
Aplicaciones adicionales	Aplicaciones adicionales	Aplicaciones adicionales Para entornos de Internet de las cosas (IoT) e Industria 4.0 Bridas, bloques de motor, ejes, transmisiones, trenes de aterrizaje, ensayos en bobinas, bobinas, barras, tuberías y tratamiento térmico	Aplicaciones adicionales	Aplicaciones adicionales	Aplicaciones adicionales	Aplicaciones adicionales

Características

	Equotip Live UCI	Equotip Live Leeb D	Equotip 550 UCI	Equotip 550 Portable Rockwell	Equotip 550 Leeb	Equotip Piccolo / Bambino 2

Firmware del instrumento	Firmware del instrumento iOS app including free updates Hotspots with predefined shortcuts Audio output of readings allow to keep mobile in the pocket On-screen guides Verification and calibration information for higher reliability	Firmware del instrumento Aplicación móvil iOS incluyendo actualizaciones gratuitas. Visite live.proceq.com para obtener información sobre la compatibilidad Teclas de acceso rápido predefinidas Salida de sonido de lecturas para permitir que el móvil se quede en el bolsillo Guías en pantalla Compensación automática de la dirección de impacto Información de verificación y calibración para mayor fiabilidad	Firmware del instrumento Vista del perfil Calibración de una sola etapa Compensación automática de la dirección de impacto Perfiles de usuario y vistas personalizados Integración en entornos de ensayo automatizados (incl. control remoto) Soporte de 11 idiomas y huso horario	Firmware del instrumento Perfiles de usuario y vistas personalizados Integración en entornos de ensayo automatizados (incl. control remoto) Soporte de 11 idiomas y huso horario	Firmware del instrumento Compensación automática de la dirección de impacto Perfiles de usuario y vistas personalizados Integración en entornos de ensayo automatizados (incl. control remoto) Soporte de 11 idiomas y huso horario	Firmware del instrumento Compensación automática de la dirección de impacto Integración en entornos de ensayo automatizados (incl. control remoto): sólo Equotip Piccolo 2 Independiente del idioma
Software de PC	Software de PC Webbrowser-based Equotip Live solution	Software de PC Solución Equotip Live basada en explorador web	Software de PC Equotip Link permitiendo la creación directa de informes e informes personalizados	Software de PC Equotip Link permitiendo la creación directa de informes e informes personalizados	Software de PC Equotip Link permitiendo la creación directa de informes e informes personalizados	Software de PC Software Piccolink (sólo Equotip Piccolo 2)
Pantalla	Pantalla Any compatible Apple® iPad (iOS 8.0 and higher)	Pantalla Cualquier dispositivo iOS (no está incluido en la entrega)	Pantalla Robusta unidad de pantalla táctil de color de 7" (800 x 480 píxeles) con procesador de doble núcleo	Pantalla Robusta unidad de pantalla táctil de color de 7" (800 x 480 píxeles) con procesador de doble núcleo	Pantalla Robusta unidad de pantalla táctil de color de 7" (800 x 480 píxeles) con procesador de doble núcleo	Pantalla Monocroma de 4 dígitos
Memoria	Memoria Memory of iOS device	Memoria Memoria del dispositivo iOS	Memoria Memoria flash interna de 8 GB (> 1’000’000 mediciones)	Memoria Memoria flash interna de 8 GB (> 1’000’000 mediciones)	Memoria Memoria flash interna de 8 GB (> 1’000’000 mediciones)	Memoria 32 KB (~ 2’000 lecturas) (sólo Equotip Piccolo 2)
Conexiones	Conexiones USB for charging and updates	Conexiones USB para cargar y para actualizaciones	Conexiones USB Host / dispositivo y Ethernet	Conexiones USB Host / dispositivo y Ethernet	Conexiones USB Host / dispositivo y Ethernet	Conexiones Interfaz USB al PC
Rango de medición	Rango de medición 20 – 2000 HV	Rango de medición 150 a 950 HL	Rango de medición 20 – 2000 HV	Rango de medición 0-100 µm; 19-70 HRC; 35-1‘000 HV	Rango de medición 150 a 950 HL	Rango de medición 150 a 950 HL
Exactitud de medición	Exactitud de medición ± 2% (150 – 950 HV)	Exactitud de medición ± 4 HL (0.5% a 800 HL)	Exactitud de medición ± 2% (150 a 950 HV)	Exactitud de medición ± 0.8 µm; ~ ± 1.0 HRC	Exactitud de medición ± 4 HL (0.5% a 800 HL)	Exactitud de medición ± 4 HL (0.5% a 800 HL)

Normalización

	Equotip Live UCI	Equotip Live Leeb D	Equotip 550 UCI	Equotip 550 Portable Rockwell	Equotip 550 Leeb	Equotip Piccolo / Bambino 2

Normas	Normas ASTM A 1038 ASTM E 140 DIN 50159 ISO 18265 GB/T 34205-2017	Normas ASTM A 956 ASTM E 140 ASTM A 370 ISO 16859 JB/T 9378 GB/T 17394 DIN 50156	Normas ASTM A 1038 ASTM E 140 DIN 50159 ISO 18265 GB/T 34205-2017	Normas DIN 50157	Normas ASTM A 956 ASTM E 140 ASTM A 370 ISO 16859 DIN 50156 GB/T 17394 JB/T 9378	Normas ASTM A 956 ASTM E 140 ASTM A 370 ISO 16859 DIN 50156 GB/T 17394 JB/T 9378
Directivas	Directivas Directiva DGZfP MC 1 Directiva VDI / VDE 2616 Hoja 1 ASME CRTD-91	Directivas ASME CRTD-91 Directiva DGZfP MC 1 Directiva VDI / VDE 2616 Hoja 1 Informes técnicos Nordtest 424-1, 424-2, 424-3	Directivas ASME CRTD-91 Directiva DGZfP MC 1 Directiva VDI / VDE 2616 Hoja 1 Informes técnicos Nordtest 424-1, 424-2, 424-3	Directivas Directiva DGZfP MC 1 Directiva VDI / VDE 2616 Hoja 1 Informes técnicos Nordtest 424-1, 424-2, 424-3	Directivas ASME CRTD-91 Directiva DGZfP MC 1 Directiva VDI / VDE 2616 Hoja 1 Informes técnicos Nordtest 424-1, 424-2, 424-3	Directivas ASME CRTD-91 Directiva DGZfP MC 1 Directiva VDI / VDE 2616 Hoja 1 Informes técnicos Nordtest 424-1, 424-2, 424-3

Accesorio

	Equotip Live UCI	Equotip Live Leeb D	Equotip 550 UCI	Equotip 550 Portable Rockwell	Equotip 550 Leeb	Equotip Piccolo / Bambino 2

Accesorios de medición	Accesorios de medición	Accesorios de medición Equotip Live Leeb Dispositivo de impacto D (358 00 101) Set di testine d'urto (353 03 000)	Accesorios de medición Sonda Equotip UCI HV1-HV10 (356 00 700) Base especial Equotip UCI (356 00 720) Batería completa (327 01 033) Cargador rápido (externo) (327 01 053) Kits 2 en 1 Ofertas especiales: Kit Equotip 550 Portable Rockwell y UCI (356 10 020), Kit Equotip 550 Leeb D y UCI (356 10 022)	Accesorios de medición Equotip Sonda Portable Rockwell 50 N (para Equotip 550 ó PC) (356 00 600) Equotip Portable Rockwell Pinza de medición (354 01 200) Equotip Portable Rockwell Base especial RZ 18 - 70 (354 01 250) Equotip Portable Rockwell Base especial RZ 70 - ∞ (354 01 253) Batería completa (327 01 033) Cargador rápido (externo) (327 01 053) Kits 2 en 1 Ofertas especiales: Kit Equotip 550 Portable Rockwell y UCI (356 10 020), Kit Equotip 550 Portable Rockwell y Leeb D (356 10 021)	Accesorios de medición Equotip Leeb Dispositivo de impacto D (356 00 100) Equotip Leeb Dispositivo de impacto E (356 00 400) Equotip Leeb Dispositivo de impacto G (356 00 300) Juego de anillos de soporte (353 03 000) Batería completa (327 01 033) Cargador rápido (externo) (327 01 053) Kits 2 en 1 Ofertas especiales: Kit Equotip 550 Portable Rockwell y Leeb D (356 10 021), Kit Equotip 550 Leeb D y UCI (356 10 022)	Accesorios de medición Kit de accesorios Equotip Piccolo 2/Bambino 2 DL (352 95 021) Set di testine d'urto (353 03 000)
Accesorios para la verificación	Accesorios para la verificación	Accesorios para la verificación Equotip Bloque de ensayo D/DC, ~775 HLD / ~56 HRC, Calibraciones de fábrica por Proceq (357 13 100)	Accesorios para la verificación Bloque de ensayo Equotip UCI ~850HV, calibración ISO 6507-3 HV5 (357 54 100)	Accesorios para la verificación Bloque de ensayo Equotip Portable Rockwell Calibración ~62 HRC, ISO 6508-3 HRC (357 44 100)	Accesorios para la verificación Equotip Bloque de ensayo E, ~810 HLE / ~63 HRC (357 14 400) Equotip Bloque de ensayo G, ~570 HLG / ~340 HB (357 32 300) Equotip Bloque de ensayo D/DC, ~775 HLD / ~56 HRC (357 13 100)	Accesorios para la verificación Equotip Bloque de ensayo D/DC, ~775 HLD / ~56 HRC, Calibraciones de fábrica por Proceq (357 13 100)

Descargas

	Equotip Live UCI	Equotip Live Leeb D	Equotip 550 UCI	Equotip 550 Portable Rockwell	Equotip 550 Leeb	Equotip Piccolo / Bambino 2

Documentos	Documentos Equotip Live Sales Flyer Equotip Live UCI Quick Start Guide Instrumentos portátiles de ensayos no destructivos de metal	Documentos Equotip Live Leeb D Quick Start Guide Equotip Live Sales Flyer Instrumentos portátiles de ensayos no destructivos de metal	Documentos Equotip 550 Certificates Equotip 550 Quick Start Guide Equotip 550 Sales Flyer Equotip 550 incl. Leeb U Operating Instructions Instrumentos portátiles de ensayos no destructivos de metal Quick Charger Operating Instructions	Documentos Equotip 550 Certificates Equotip 550 Quick Start Guide Equotip 550 Sales Flyer Equotip 550 incl. Leeb U Operating Instructions Instrumentos portátiles de ensayos no destructivos de metal Quick Charger Operating Instructions	Documentos Equotip 550 Certificates Equotip 550 Quick Start Guide Equotip 550 Sales Flyer Equotip 550 incl. Leeb U Operating Instructions Instrumentos portátiles de ensayos no destructivos de metal Quick Charger Operating Instructions Rock Testing Sales Flyer	Documentos Equotip Piccolo Bambino 2 Operating Instructions Equotip Piccolo Bambino 2 Quick Start Guide Equotip Piccolo Bambino 2 Sales Flyer Instrumentos portátiles de ensayos no destructivos de metal
Software	Software PqUpgrade_Setup_V_1_4_14	Software PqUpgrade_Setup_V_1_4_14	Software EquotipLink Setup V1.4.10 PqRemote V1.2.0	Software EquotipLink Setup V1.4.10 PqRemote V1.2.0	Software EquotipLink Setup V1.4.10 PqRemote V1.2.0	Software Piccolink Setup V3.1.0
Medios	Medios Equotip Live Logbook Equotip Live Picture Equotip Live UCI Equotip Live UCI Application 01	Medios Equotip Live Leeb D Equotip Live Leeb D Application 01 Equotip Live Logbook	Medios Equotip 550 UCI Application 01	Medios Equotip 550 Portable Rockwell	Medios Equotip 550 Leeb Application 01	Medios Equotip Piccolo Bambino 2 Application 01

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