Es
Durómetros portátiles Equotip

Dispositivos de ensayo de dureza de metal portátiles Equotip Leeb, Rockwell y UCI

Durómetros portátiles Equotip

Supere las limitaciones de los ensayos de dureza estacionarios de banco

Los Equotip de Proceq permiten la inspección de prácticamente cualquier objeto, de piezas pulidas y superficies tratadas térmicamente. Las mediciones de dureza se realizan usando el método de ensayos de rebote dinámico según Leeb, el ensayo de dureza estática Portable Rockwell y el método de impedancia de contacto ultrasónica (UCI). Los robustos durómetros Swiss Made están diseñados para la ejecución de ensayos de dureza portátiles en el laboratorio, en el taller, en instalaciones de producción o en el emplazamiento. La innovación más reciente de Proceq es el Equotip Live que presenta un dispositivo de impacto inalámbrico, una aplicación móvil, datos en tiempo real y una función de copia de seguridad en nube.

Desde que Proceq inventó el principio de ensayos Leeb en 1975, Equotip se ha convertido en una técnica de medición reconocida a nivel global y, de hecho, en una norma industrial. Una amplia gama de diferentes dispositivos de impacto, así como una selección integral de bloques de ensayo y de accesorios cubren la mayoría de las aplicaciones. 

Equotip Live UCI
Equotip Live Leeb D
Equotip 550 UCI
Equotip 550 Portable Rockwell
Equotip 550 Leeb
Equotip Piccolo / Bambino 2
Descripción
Descripción

Equotip Live UCI creates new opportunities for collaboration in portable hardness testing. The Equotip iOS app allows you to conduct measurements at a remote location and provide instant access of your results to your team.

Descripción

La primera solución de durómetro inalámbrico portátil plenamente IoT, con compartición de datos en tiempo real, copia de seguridad en nube e interfaz intuitiva de usuario. El dispositivo de impacto Leeb D ultraportátil Equotip Live es perfecto para usarlo en espacios confinados. 

Descripción

Versátil durómetro UCI para material de grano fino de cualquier forma y superficies tratadas térmicamente. La patentada carga de ensayo ajustable hace posible una amplia gama de aplicaciones. Robusta pantalla táctil con características del software y funciones de análisis mejoradas. Equotip 540 para uso regular periódico sin necesidad de crear de informes extensivos.

Descripción

Durómetro Portable Rockwell para piezas sensibles a arañazos, pulidas y delgadas. Muestra excelente sensibilidad debido a la mínima penetración de unos pocos micrómetros. Robusta pantalla táctil con características del software y funciones de análisis mejoradas.

Descripción

Versátil durómetro Leeb para la ejecución de ensayos de piezas pesadas, grandes o instaladas en el emplazamiento. Robusta pantalla táctil diseñada para proporcionar una extraordinaria experiencia de usuario y la medición y el análisis mejores posibles. Características del software y funciones de análisis mejoradas. Equotip 540 para uso regular periódico sin necesidad de crear de informes extensivos.

Descripción

Durómetro Leeb, plenamente integrado y práctico, con una caja compacta y robusta. Apropiado en forma ideal para rápidos ensayos de dureza en el emplazamiento. Sonda DL opcional para espacios confinados y superficies rebajadas. El Equotip Piccolo 2 permite la transferencia de datos a un PC.

Sus ventajas
Sus ventajas
Wireless UCI probe

Wireless UCI probe

Instantly share your measurements and reports

Instantly share your measurements and reports

Logbook for full data traceability

Logbook for full data traceability

Sus ventajas
Dispositivo de impacto inalámbrico e interfaz de usuario limpia

Dispositivo de impacto inalámbrico e interfaz de usuario limpia

Sencillamente comparta sus mediciones e informes en tiempo real y en todo el mundo

Sencillamente comparta sus mediciones e informes en tiempo real y en todo el mundo

Cuaderno de registros para plena trazabilidad de los datos y para agregar medios

Cuaderno de registros para plena trazabilidad de los datos y para agregar medios

Sus ventajas
Combine con Leeb y Portable Rockwell

Combine con Leeb y Portable Rockwell

Retroalimentación en pantalla para reducir inexactitudes de medición causadas por el operador

Retroalimentación en pantalla para reducir inexactitudes de medición causadas por el operador

Informes listos para usar debido a la potente característica de creación de informes incorporada

Informes listos para usar debido a la potente característica de creación de informes incorporada

Sus ventajas
Combine con Leeb y UCI

Combine con Leeb y UCI

Igualmente fiable, preciso y estandarizado, pero más rápido que los durómetros Rockwell estacionarios

Igualmente fiable, preciso y estandarizado, pero más rápido que los durómetros Rockwell estacionarios

Informes listos para usar debido a la potente característica de creación de informes incorporada

Informes listos para usar debido a la potente característica de creación de informes incorporada

Sus ventajas
Use la gama completa de sondas Leeb y combine con Portable Rockwell y UCI

Use la gama completa de sondas Leeb y combine con Portable Rockwell y UCI

Viene con la alta precisión conocida de todos los productos Equotip

Viene con la alta precisión conocida de todos los productos Equotip

Informes listos para usar debido a la potente característica de creación de informes incorporada

Informes listos para usar debido a la potente característica de creación de informes incorporada

Sus ventajas
Modelo básico para rápidas pruebas en el emplazamiento

Modelo básico para rápidas pruebas en el emplazamiento

Caja robusta y corrección automática del ángulo permite un uso versátil

Caja robusta y corrección automática del ángulo permite un uso versátil

Viene con la alta precisión conocida de todos los productos Equotip

Viene con la alta precisión conocida de todos los productos Equotip

Escala nativa
Escala nativa

HV (UCI)

Escala nativa

HL

Escala nativa

HV (UCI)

Escala nativa

μm, µin

Escala nativa

HL

Escala nativa

HL

Rango de medición
Rango de medición

20 – 2000 HV

Rango de medición

150 a 950 HL

Rango de medición

20 – 2000 HV

Rango de medición

0-100 µm; 19-70 HRC; 35-1‘000 HV

Rango de medición

150 a 950 HL

Rango de medición

150 a 950 HL

Exactitud de medición
Exactitud de medición

± 2% (150 – 950 HV)

Exactitud de medición

± 4 HL (0.5% a 800 HL)

Exactitud de medición

± 2% (150 a 950 HV)

Exactitud de medición

± 0.8 µm; ~ ± 1.0 HRC

Exactitud de medición

± 4 HL (0.5% a 800 HL)

Exactitud de medición

± 4 HL (0.5% a 800 HL)

Escalas disponibles
Escalas disponibles

HB, HV, HLD, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, MPA

Escalas disponibles

HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA

Escalas disponibles

HB, HV, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, MPA

Escalas disponibles

HB, HV, HRA, HRB, HRC, R15N, HR15T, HMMRC, MPA

Escalas disponibles

HB, HV, HRA, HRB, HRC, HS, MPA

Escalas disponibles

HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA (sólo Equotip Piccolo 2)

Sondas disponibles
Sondas disponibles

Universal probe with adjustable test load between HV1 and HV10

Sondas disponibles

Leeb D

Sondas disponibles

UCI (ajustable de HV1 a HV5)

Sondas disponibles

Portable Rockwell (50N)

Sondas disponibles

Leeb D / DC / DL / S / E / G / C

Sondas disponibles

Leeb D / DL

Combinación con otros métodos
Combinación con otros métodos
Combinación con otros métodos
Combinación con otros métodos

Leeb, Portable Rockwell

Combinación con otros métodos

Leeb, UCI

Combinación con otros métodos

Portable Rockwell, UCI

Combinación con otros métodos
Rugosidad promedio Ra (µm / µin)
Rugosidad promedio Ra (µm / µin)

12.5 / 500

Rugosidad promedio Ra (µm / µin)

2 / 80

Rugosidad promedio Ra (µm / µin)

12.5 / 500

Rugosidad promedio Ra (µm / µin)

2 / 80

Rugosidad promedio Ra (µm / µin)

7 / 275 (Leeb G)

Rugosidad promedio Ra (µm / µin)

2 / 80

Masa mínima (kg / lbs)
Masa mínima (kg / lbs)

0.3 / 0.66

Masa mínima (kg / lbs)

0.05 / 0.2

Masa mínima (kg / lbs)

0.3 / 0.66

Masa mínima (kg / lbs)

Ningún requerimiento

Masa mínima (kg / lbs)

0.02 / 0.045 (Leeb C)

Masa mínima (kg / lbs)

0.05 / 0.2

Espesor mínimo (mm / in)
Espesor mínimo (mm / in)

5 / 0.2

Espesor mínimo (mm / in)

3 / 0.12

Espesor mínimo (mm / in)

5 / 0.2

Espesor mínimo (mm / in)

10 x profundidad de indentaciones

Espesor mínimo (mm / in)

1 / 0.04 (Leeb C)

Espesor mínimo (mm / in)

3 / 0.12

Equotip Live UCI
Equotip Live Leeb D
Equotip 550 UCI
Equotip 550 Portable Rockwell
Equotip 550 Leeb
Equotip Piccolo / Bambino 2
Estándar para objetos grandes
Estándar para objetos grandes
Estándar para objetos grandes
Estándar para objetos grandes
Estándar para objetos grandes
Estándar para objetos grandes
Estándar para objetos grandes
Objetos redondos
Objetos redondos
Objetos redondos
En combinación con anillos de soporte
Objetos redondos
Objetos redondos
Objetos redondos
En combinación con anillos de soporte
Objetos redondos
En combinación con anillos de soporte
Objetos ligeros
Objetos ligeros
Objetos ligeros
Objetos ligeros
Objetos ligeros
Objetos ligeros
Con dispositivo de impacto Leeb C
Objetos ligeros
Objetos muy duros
Objetos muy duros
Objetos muy duros
Objetos muy duros
Objetos muy duros
Objetos muy duros
Con dispositivos de impacto Leeb S y E
Objetos muy duros
Objetos de fundición
Objetos de fundición
Objetos de fundición
Objetos de fundición
Objetos de fundición
Objetos de fundición
Con dispositivo de impacto Leeb G
Objetos de fundición
Objetos pulidos
Objetos pulidos
Objetos pulidos
Objetos pulidos
Objetos pulidos
Objetos pulidos
Con dispositivo de impacto Leeb C
Objetos pulidos
Accesibilidad limitada
Accesibilidad limitada
Accesibilidad limitada
Accesibilidad limitada
Accesibilidad limitada
Accesibilidad limitada
Con dispositivos de impacto Leeb DC y DL
Accesibilidad limitada
Con dispositivo de impacto Leeb DL
Objetos delgados
Objetos delgados
Objetos delgados
Objetos delgados
Objetos delgados
Objetos delgados
Objetos delgados
Objetos delgados
Objetos delgados
Objetos delgados
Objetos delgados
Objetos delgados
Objetos delgados
Objetos delgados
Aplicaciones adicionales
Aplicaciones adicionales

 

 

Aplicaciones adicionales
  • Para entornos de Internet de las cosas (IoT) e Industria 4.0
  • Bridas, bloques de motor, ejes, transmisiones, trenes de aterrizaje, ensayos en bobinas, bobinas, barras, tuberías y tratamiento térmico

 

Aplicaciones adicionales

 

 

Aplicaciones adicionales

 

 

Aplicaciones adicionales

 

 

Aplicaciones adicionales

 

 

Equotip Live UCI
Equotip Live Leeb D
Equotip 550 UCI
Equotip 550 Portable Rockwell
Equotip 550 Leeb
Equotip Piccolo / Bambino 2
Firmware del instrumento
Firmware del instrumento
  • iOS app including free updates
  • Hotspots with predefined shortcuts
  • Audio output of readings allow to keep mobile in the pocket
  • On-screen guides
  • Verification and calibration information for higher reliability
Firmware del instrumento
  • Aplicación móvil iOS incluyendo actualizaciones gratuitas. Visite live.proceq.com para obtener información sobre la compatibilidad
  • Teclas de acceso rápido predefinidas
  • Salida de sonido de lecturas para permitir que el móvil se quede en el bolsillo
  • Guías en pantalla
  • Compensación automática de la dirección de impacto
  • Información de verificación y calibración para mayor fiabilidad
Firmware del instrumento
  • Vista del perfil
  • Calibración de una sola etapa
  • Compensación automática de la dirección de impacto
  • Perfiles de usuario y vistas personalizados
  • Integración en entornos de ensayo automatizados (incl. control remoto)
  • Soporte de 11 idiomas y huso horario
Firmware del instrumento
  • Perfiles de usuario y vistas personalizados
  • Integración en entornos de ensayo automatizados (incl. control remoto)
  • Soporte de 11 idiomas y huso horario
Firmware del instrumento
  • Compensación automática de la dirección de impacto
  • Perfiles de usuario y vistas personalizados
  • Integración en entornos de ensayo automatizados (incl. control remoto)
  • Soporte de 11 idiomas y huso horario
Firmware del instrumento
  • Compensación automática de la dirección de impacto
  • Integración en entornos de ensayo automatizados (incl. control remoto): sólo Equotip Piccolo 2
  • Independiente del idioma
Software de PC
Software de PC

Webbrowser-based Equotip Live solution

Software de PC

Solución Equotip Live basada en explorador web

Software de PC

Equotip Link permitiendo la creación directa de informes e informes personalizados

Software de PC

Equotip Link permitiendo la creación directa de informes e informes personalizados

Software de PC

Equotip Link permitiendo la creación directa de informes e informes personalizados

Software de PC

Software Piccolink (sólo Equotip Piccolo 2)

Pantalla
Pantalla

Any compatible Apple® iPad (iOS 8.0 and higher)

Pantalla

Cualquier dispositivo iOS (no está incluido en la entrega)

Pantalla

Robusta unidad de pantalla táctil de color de 7" (800 x 480 píxeles) con procesador de doble núcleo

Pantalla

Robusta unidad de pantalla táctil de color de 7" (800 x 480 píxeles) con procesador de doble núcleo

Pantalla

Robusta unidad de pantalla táctil de color de 7" (800 x 480 píxeles) con procesador de doble núcleo

Pantalla

Monocroma de 4 dígitos

Memoria
Memoria

Memory of iOS device

Memoria

Memoria del dispositivo iOS

Memoria

Memoria flash interna de 8 GB (> 1’000’000 mediciones)

Memoria

Memoria flash interna de 8 GB (> 1’000’000 mediciones)

Memoria

Memoria flash interna de 8 GB (> 1’000’000 mediciones)

Memoria

32 KB (~ 2’000 lecturas) (sólo Equotip Piccolo 2)

Conexiones
Conexiones

USB for charging and updates

Conexiones

USB para cargar y para actualizaciones

Conexiones

USB Host / dispositivo y Ethernet

Conexiones

USB Host / dispositivo y Ethernet

Conexiones

USB Host / dispositivo y Ethernet

Conexiones

Interfaz USB al PC

Equotip Live UCI
Equotip Live Leeb D
Equotip 550 UCI
Equotip 550 Portable Rockwell
Equotip 550 Leeb
Equotip Piccolo / Bambino 2
Normas
Normas
  • ASTM A 1038
  • ASTM E 140
  • DIN 50159
  • ISO 18265
  • GB/T 34205-2017
Normas
  • ASTM A 956
  • ASTM E 140
  • ASTM A 370
  • ISO 16859
  • JB/T 9378
  • GB/T 17394
  • DIN 50156
Normas
  • ASTM A 1038
  • ASTM E 140
  • DIN 50159
  • ISO 18265
  • GB/T 34205-2017
Normas
  • DIN 50157
Normas
  • ASTM A 956
  • ASTM E 140
  • ASTM A 370
  • ISO 16859
  • DIN 50156
  • GB/T 17394
  • JB/T 9378
Normas
  • ASTM A 956
  • ASTM E 140
  • ASTM A 370
  • ISO 16859
  • DIN 50156
  • GB/T 17394
  • JB/T 9378
Directivas
Directivas
  • Directiva DGZfP MC 1
  • Directiva VDI / VDE 2616 Hoja 1
  • ASME CRTD-91
Directivas
  • ASME CRTD-91
  • Directiva DGZfP MC 1
  • Directiva VDI / VDE 2616 Hoja 1
  • Informes técnicos Nordtest 424-1, 424-2, 424-3
Directivas
  • ASME CRTD-91
  • Directiva DGZfP MC 1
  • Directiva VDI / VDE 2616 Hoja 1
  • Informes técnicos Nordtest 424-1, 424-2, 424-3
Directivas
  • Directiva DGZfP MC 1
  • Directiva VDI / VDE 2616 Hoja 1
  • Informes técnicos Nordtest 424-1, 424-2, 424-3
Directivas
  • ASME CRTD-91
  • Directiva DGZfP MC 1
  • Directiva VDI / VDE 2616 Hoja 1
  • Informes técnicos Nordtest 424-1, 424-2, 424-3
Directivas
  • ASME CRTD-91
  • Directiva DGZfP MC 1
  • Directiva VDI / VDE 2616 Hoja 1
  • Informes técnicos Nordtest 424-1, 424-2, 424-3
Equotip Live UCI
Equotip Live Leeb D
Equotip 550 UCI
Equotip 550 Portable Rockwell
Equotip 550 Leeb
Equotip Piccolo / Bambino 2
Accesorios de medición
Accesorios de medición
Accesorios de medición
  • Equotip Live Leeb Dispositivo de impacto D (358 00 101)
  • Set di testine d'urto (353 03 000)
Accesorios de medición
  • Sonda Equotip UCI HV1-HV5 (356 00 700)
  • Base especial Equotip UCI (356 00 720)
  • Batería completa (327 01 033)
  • Cargador rápido (externo) (327 01 053)
  • Kits 2 en 1 Ofertas especiales: Kit Equotip 550 Portable Rockwell y UCI (356 10 020), Kit Equotip 550 Leeb D y UCI (356 10 022)
Accesorios de medición
  • Equotip Sonda Portable Rockwell 50 N (para Equotip 550 ó PC) (356 00 600)
  • Equotip Portable Rockwell Pinza de medición (354 01 200)
  • Equotip Portable Rockwell Base especial RZ 18 - 70 (354 01 250)
  • Equotip Portable Rockwell Base especial RZ 70 - ∞ (354 01 253)
  • Batería completa (327 01 033)
  • Cargador rápido (externo) (327 01 053)
  • Kits 2 en 1 Ofertas especiales: Kit Equotip 550 Portable Rockwell y UCI (356 10 020), Kit Equotip 550 Portable Rockwell y Leeb D (356 10 021)
Accesorios de medición
  • Equotip Leeb Dispositivo de impacto D (356 00 100)
  • Equotip Leeb Dispositivo de impacto E (356 00 400)
  • Equotip Leeb Dispositivo de impacto G (356 00 300)
  • Juego de anillos de soporte (353 03 000)
  • Batería completa (327 01 033)
  • Cargador rápido (externo) (327 01 053)
  • Kits 2 en 1 Ofertas especiales: Kit Equotip 550 Portable Rockwell y Leeb D (356 10 021), Kit Equotip 550 Leeb D y UCI (356 10 022)
Accesorios de medición
  • Kit de accesorios Equotip Piccolo 2/Bambino 2 DL (352 95 021)
  • Set di testine d'urto (353 03 000)
Accesorios para la verificación
Accesorios para la verificación
Accesorios para la verificación

Equotip Bloque de ensayo D/DC, ~775 HLD / ~56 HRC, Calibraciones de fábrica por Proceq (357 13 100)

Accesorios para la verificación

Bloque de ensayo Equotip UCI ~850HV, calibración ISO 6507-3 HV5 (357 54 100)

Accesorios para la verificación

Bloque de ensayo Equotip Portable Rockwell Calibración ~62 HRC, ISO 6508-3 HRC (357 44 100)

Accesorios para la verificación
  • Equotip Bloque de ensayo E, ~810 HLE / ~63 HRC (357 14 400)
  • Equotip Bloque de ensayo G, ~570 HLG / ~340 HB (357 32 300)
  • Equotip Bloque de ensayo D/DC, ~775 HLD / ~56 HRC (357 13 100)
Accesorios para la verificación

Equotip Bloque de ensayo D/DC, ~775 HLD / ~56 HRC, Calibraciones de fábrica por Proceq (357 13 100)

Equotip Live UCI
Equotip Live Leeb D
Equotip 550 UCI
Equotip 550 Portable Rockwell
Equotip 550 Leeb
Equotip Piccolo / Bambino 2
Documentos
Documentos
Documentos
Documentos
Documentos
Documentos
Documentos
Software
Software
Software
Software
Software
Software
Software
Medios
Medios
Medios
Medios
Medios
Medios
Medios
Equotip Live UCI
Equotip Live Leeb D
Equotip 550 UCI
Equotip 550 Portable Rockwell
Equotip 550 Leeb
Equotip Piccolo / Bambino 2
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