Equotip® - Dispositivos portáteis de ensaio de dureza em metal Leeb, Rockwell e UCI
Supere as limitações do teste de dureza estacionário de bancada
O Equotip Proceq permite inspecionar praticamente qualquer objeto, peças polidas e superfícies tratadas a quente. Os ensaios de dureza são realizados utilizando o método de ensaio de rebote dinâmico Leeb, ensaio de dureza estático Portable Rockwell e o método de Impedância Ultrassônica de Contato (UCI). Os robustos equipamentos para ensaios de dureza portáteis Equotip produzidos na Suíça são aplicáveis em laboratório, em workshops, em instalações de produção ou “in situ.” A mais recente inovação da Proceq é a novíssima solução Equotip Live, que utiliza Bluetooth para se conectar com um aplicativo iOS e tecnologia de sincronização de última geração!
Desde que a Proceq inventou o princípio de ensaio Leeb em 1975, o Equotip se estabeleceu como técnica de medição mundialmente reconhecida para ensaios de dureza portáteis e um padrão para a indústria. Uma gama ampla de dispositivos de impacto diferentes, além de uma ampla seleção de blocos de ensaio e acessórios cobrem a maioria das aplicações.
Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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| Descrição |
Descrição
O Equotip Live UCI cria novas oportunidades para a colaboração em ensaios de dureza portáteis. O aplicativo Equotip iOS permite conduzir medições em um local remoto e disponibilizar acesso imediato dos seus resultados para a sua equipe. |
Descrição
A primeira solução em equipamento para ensaio de dureza portátil e sem fio totalmente IoT no mundo, com compartilhamento de dados em tempo real, backup na nuvem e interface do usuário intuitiva. O dispositivo de impacto Equotip Live Leeb D ultra portátil é perfeito para o uso em espaços confinados. |
Descrição
O versátil equipamento de dureza Leeb é apropriado para ensaios "in situ" de materiais pesados, grandes ou para peças já instaladas. Robusta unidade de leitura de dados com tela touchscreen desenvolvida para disponibilizar uma experiência excepcional ao usuário de medição e análise melhores possíveis. Recursos de software melhorados e funções de análise. O Equotip 540 uso regular sem grande necessidade de relatórios. |
Descrição
O dispositivo para ensaio de dureza Portable Rockwell é aplicado para peças de pequena espessura, polidas e leves. Ele disponibiliza sensibilidade excelente através da uma penetração mínima de alguns micrômetros. Robusta unidade de leitura de dados com tela touchscreen com recursos de software melhorados e funções de análise. |
Descrição
O equipamento para ensaio de dureza UCI é apropriado para material de grão fino de qualquer formato e para superfícies tratadas a quente. A carga de ensaio é ajustável e patenteada. Permite uma gama ampla de aplicações. Robusta unidade de leitura de dados com tela touchscreen com recursos de software melhorados e funções de análise. O Equotip 540 uso regular sem grande necessidade de relatórios. |
Descrição
Dispositivo para ensaio de dureza prático e totalmente integrado com uma carcaça compacta e robusta. Ideal para ensaios de dureza rápidos "in situ". Sonda DL opcional para espaços confinados e superfícies com reentrâncias. Equotip Piccolo 2 permite a transferência dos dados para um PC. |
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| Suas vantagens |
Suas vantagens
Sonda UCI sem fio 
Compartilhe as suas medições e relatórios imediatamente 
Registros para a rastreabilidade completa dos dados |
Suas vantagens
Dispositivo de impacto sem fio e interface do usuário clean
Compartilhe facilmente as suas medições e relatórios em tempo real com o mundo todo
Livro de registros para rastreabilidade total dos dados e para adicionar mídia |
Suas vantagens
Utilize com o portfólio de sondas Leeb completo e combine com Portable Rockwell e UCI 
Vem com a alta acurácia conhecida em todos os produtos Equotip
Relatórios prontos para o uso através de poderoso recurso de relatórios integrado |
Suas vantagens
Combine com Leeb e UCI 
Igualmente confiável, preciso e padronizado, mas mais rápido do que os dispositivos de ensaio de dureza estacionários Rockwell
Relatórios prontos para o uso através do poderoso recurso de relatórios integrado |
Suas vantagens
Combine com Leeb e Portable Rockwell
Retorno na tela para reduzir as imprecisões da medição causadas pelo operador
Relatórios prontos para o uso através do poderoso recurso de relatórios integrado |
Suas vantagens
Modelo de entrada para ensaios rápidos “in situ”
A carcaça compacta e correção automática do ângulo de impacto permitem utilização flexível
Vem com a alta acurácia conhecida em todos os produtos Equotip |
| Escala nativa |
Escala nativa
HV (UCI) |
Escala nativa
HL |
Escala nativa
HL |
Escala nativa
μm, µpol |
Escala nativa
HV (UCI) |
Escala nativa
HL |
| Escalas disponíveis |
Escalas disponíveis
HB, HV, HLD, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, MPA |
Escalas disponíveis
HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA |
Escalas disponíveis
HB, HV, HRA, HRB, HRC, HS, MPA |
Escalas disponíveis
HB, HV, HRA, HRB, HRC, R15N, HR15T, HMMRC, MPA |
Escalas disponíveis
HB, HV, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, MPA |
Escalas disponíveis
HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA (apenas Equotip Piccolo 2) |
| Sondas disponíveis |
Sondas disponíveis
Sonda universal com carga de teste ajustável entre HV1 e HV10 |
Sondas disponíveis
Leeb D |
Sondas disponíveis
Leeb D / DC / DL / S / E / G / C |
Sondas disponíveis
Portable Rockwell (50N) |
Sondas disponíveis
UCI (Adjustable HV1 - HV10) |
Sondas disponíveis
Leeb D / DL |
| Combinação com outros métodos |
Combinação com outros métodos
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Combinação com outros métodos
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Combinação com outros métodos
Portable Rockwell, UCI |
Combinação com outros métodos
Leeb, UCI |
Combinação com outros métodos
Leeb, Portable Rockwell |
Combinação com outros métodos
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| Rugosidade média Ra (µm / µpol) |
Rugosidade média Ra (µm / µpol)
12.5 / 500 |
Rugosidade média Ra (µm / µpol)
2 / 80 |
Rugosidade média Ra (µm / µpol)
7 / 275 (Leeb G) |
Rugosidade média Ra (µm / µpol)
2 / 80 |
Rugosidade média Ra (µm / µpol)
12.5 / 500 |
Rugosidade média Ra (µm / µpol)
2 / 80 |
| Massa mínima (kg / lbs) |
Massa mínima (kg / lbs)
0.3 / 0.66 |
Massa mínima (kg / lbs)
0.05 / 0.2 |
Massa mínima (kg / lbs)
0.02 / 0.045 (Leeb C) |
Massa mínima (kg / lbs)
Sem requisitos |
Massa mínima (kg / lbs)
0.3 / 0.66 |
Massa mínima (kg / lbs)
0.05 / 0.2 |
| Espessura mín. (mm / pol.) |
Espessura mín. (mm / pol.)
5 / 0.2 |
Espessura mín. (mm / pol.)
3 / 0.12 |
Espessura mín. (mm / pol.)
1 / 0.04 (Leeb C) |
Espessura mín. (mm / pol.)
10 x profundidade da indentação |
Espessura mín. (mm / pol.)
5 / 0.2 |
Espessura mín. (mm / pol.)
3 / 0.12 |
Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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| Objetos planos |
Objetos planos
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Objetos planos
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Objetos planos
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Objetos planos
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Objetos planos
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Objetos planos
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| Objetos curvos |
Objetos curvos
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Objetos curvos
Em combinação com anéis de suporte
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Objetos curvos
Em combinação com anéis de suporte
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Objetos curvos
Combinado com pé de apoio especial
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Objetos curvos
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Objetos curvos
Em combinação com anéis de suporte
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| Objetos leves ( <2kg) |
Objetos leves ( <2kg)
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Objetos leves ( <2kg)
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Objetos leves ( <2kg)
Com dispositivo de impacto Leeb C
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Objetos leves ( <2kg)
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Objetos leves ( <2kg)
|
Objetos leves ( <2kg)
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| Objetos muito duros |
Objetos muito duros
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Objetos muito duros
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Objetos muito duros
Com dispositivos de impacto Leeb S e E
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Objetos muito duros
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Objetos muito duros
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Objetos muito duros
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| Objetos fundidos |
Objetos fundidos
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Objetos fundidos
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Objetos fundidos
Com dispositivos de impacto Leeb G e D
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Objetos fundidos
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Objetos fundidos
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Objetos fundidos
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| Objetos polidos |
Objetos polidos
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Objetos polidos
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Objetos polidos
Com dispositivo de impacto Leeb C
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Objetos polidos
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Objetos polidos
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Objetos polidos
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| Acessibilidade limitada |
Acessibilidade limitada
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Acessibilidade limitada
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Acessibilidade limitada
Com dispositivos de impacto Leeb DC e DL
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Acessibilidade limitada
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Acessibilidade limitada
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Acessibilidade limitada
Com dispositivo de impacto Leeb DL
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| Objetos finos ( <5mm) |
Objetos finos ( <5mm)
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Objetos finos ( <5mm)
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Objetos finos ( <5mm)
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Objetos finos ( <5mm)
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Objetos finos ( <5mm)
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Objetos finos ( <5mm)
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| Superfícies tratadas a quente |
Superfícies tratadas a quente
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Superfícies tratadas a quente
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Superfícies tratadas a quente
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Superfícies tratadas a quente
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Superfícies tratadas a quente
|
Superfícies tratadas a quente
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| Aplicações adicionais |
Aplicações adicionais
|
Aplicações adicionais
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Aplicações adicionais
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Aplicações adicionais
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Aplicações adicionais
|
Aplicações adicionais
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Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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| Firmware do instrumento |
Firmware do instrumento
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Firmware do instrumento
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Firmware do instrumento
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Firmware do instrumento
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Firmware do instrumento
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Firmware do instrumento
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| Software do PC |
Software do PC
Solução Equotip Live baseado em navegador da web |
Software do PC
Solução Equotip Live baseado em navegador da web |
Software do PC
Equotip Link permite relatórios diretos e personalizados |
Software do PC
Equotip Link permite relatórios diretos e personalizados |
Software do PC
Equotip Link permite relatórios diretos e personalizados |
Software do PC
Software Piccolink (apenas Equotip Piccolo 2) |
| Display |
Display
Qualquer dispositivo iOS (não fornecido) |
Display
Qualquer dispositivo iOS (não fornecido) |
Display
Robusta unidade de leitura de dados com tela touchscreen de 7” colorida (800 x 480 pixels) com processador dual core |
Display
Robusta unidade de leitura de dados com tela touchscreen de 7” colorida (800 x 480 pixels) com processador dual core |
Display
Robusta unidade de leitura de dados com tela touchscreen de 7” colorida (800 x 480 pixels) com processador dual core |
Display
Monocromático de 4 dígitos |
| Firmware do instrumento |
Firmware do instrumento
Memória do dispositivo iOS |
Firmware do instrumento
Memória do dispositivo iOS |
Firmware do instrumento
Memória flash interna 8 GB (> 1.000.000 medições) |
Firmware do instrumento
Memória flash interna 8 GB (> 1.000.000 medições) |
Firmware do instrumento
Memória flash interna 8 GB (> 1.000.000 medições) |
Firmware do instrumento
32 KB (~ 2.000 medições) (apenas o Equotip Piccolo 2) |
| Conexões |
Conexões
USB para carregar e atualizações |
Conexões
USB para carregar e atualizações |
Conexões
Host USB / dispositivo USB e Ethernet |
Conexões
Host USB / dispositivo USB e Ethernet |
Conexões
Host USB / dispositivo USB e Ethernet |
Conexões
Interface USB para PC |
| Faixa de medição |
Faixa de medição
20 – 2000 HV |
Faixa de medição
150 – 950 HL |
Faixa de medição
150 – 950 HL |
Faixa de medição
0-100 µm; 19-70 HRC; 35-1.000 HV |
Faixa de medição
20 - 2000 HV |
Faixa de medição
150 – 950 HL |
| Precisão da medição |
Precisão da medição
± 2% (150 – 950 HV) |
Precisão da medição
± 4 HL (0,5% a 800 HL) |
Precisão da medição
± 4 HL (0.5% a 800 HL) |
Precisão da medição
± 0.8 µm; ~ ± 1.0 HRC |
Precisão da medição
± 2% (150 - 950 HV) |
Precisão da medição
± 4 HL (0,5% a 800 HL) |
Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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| Padrões |
Padrões
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Padrões
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Padrões
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Padrões
|
Padrões
|
Padrões
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| Diretrizes |
Diretrizes
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Diretrizes
|
Diretrizes
|
Diretrizes
|
Diretrizes
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Diretrizes
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Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
|---|
| Acessórios de medição |
Acessórios de medição
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Acessórios de medição
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Acessórios de medição
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Acessórios de medição
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Acessórios de medição
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Acessórios de medição
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| Acessórios de verificação |
Acessórios de verificação
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Acessórios de verificação
Bloco de teste Equotip D/DC, ~775 HLD / ~56 HRC, Calibrações de fábrica pela Proceq (357 13 100) |
Acessórios de verificação
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Acessórios de verificação
Bloco de teste Equotip Rockwell Portátil ~62 HRC, ISO 6508-3 calibração HRC (357 44 100) |
Acessórios de verificação
Bloco de teste Equotip UCI ~850HV, ISO 6507- 3 calibração HV5 (357 54 100) |
Acessórios de verificação
Bloco de teste Equotip D/DC, ~775 HLD / ~56 HRC, Calibrações de fábrica pela Proceq (357 13 100) |
Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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| Documentos |
Documentos
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Documentos
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Documentos
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Documentos
|
Documentos
|
Documentos
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| Software |
Software
|
Software
|
Software
|
Software
|
Software
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Software
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| Midia |
Midia
|
Midia
|
Midia
|
Midia
|
Midia
|
Midia
|
Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
|---|
|
Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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