Equotip - Dispositivos portáteis de ensaio de dureza em metal Leeb, Rockwell e UCI

Supere as limitações do teste de dureza estacionário de bancada

O Equotip Proceq permite inspecionar praticamente qualquer objeto, peças polidas e superfícies tratadas a quente. Os ensaios de dureza são realizados utilizando o método de ensaio de rebote dinâmico Leeb, ensaio de dureza estático Portable Rockwell e o método de Impedância Ultrassônica de Contato (UCI). Os robustos equipamentos para ensaios de dureza portáteis Equotip produzidos na Suíça são aplicáveis em laboratório, em workshops, em instalações de produção ou “in situ.” A mais recente inovação da Proceq é a novíssima solução Equotip Live, que utiliza Bluetooth para se conectar com um aplicativo iOS e tecnologia de sincronização de última geração!

Desde que a Proceq inventou o princípio de ensaio Leeb em 1975, o Equotip se estabeleceu como técnica de medição mundialmente reconhecida para ensaios de dureza portáteis e um padrão para a indústria. Uma gama ampla de dispositivos de impacto diferentes, além de uma ampla seleção de blocos de ensaio e acessórios cobrem a maioria das aplicações.

Modelos Aplicações Características Normatização Acessórios Downloads Videos

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Equotip Live UCI

Live Leeb D portable wireless metal hardness tester

Equotip Live Leeb D

Equotip 550 UCI

Equotip 550 Portable Rockwell

Equotip 550 Leeb

Equotip Piccolo / Bambino 2

Modelos

	Equotip Live UCI	Equotip Live Leeb D	Equotip 550 UCI	Equotip 550 Portable Rockwell	Equotip 550 Leeb	Equotip Piccolo / Bambino 2

Descrição	Descrição O Equotip Live UCI cria novas oportunidades para a colaboração em ensaios de dureza portáteis. O aplicativo Equotip iOS permite conduzir medições em um local remoto e disponibilizar acesso imediato dos seus resultados para a sua equipe.	Descrição A primeira solução em equipamento para ensaio de dureza portátil e sem fio totalmente IoT no mundo, com compartilhamento de dados em tempo real, backup na nuvem e interface do usuário intuitiva. O dispositivo de impacto Equotip Live Leeb D ultra portátil é perfeito para o uso em espaços confinados.	Descrição O equipamento para ensaio de dureza UCI é apropriado para material de grão fino de qualquer formato e para superfícies tratadas a quente. A carga de ensaio é ajustável e patenteada. Permite uma gama ampla de aplicações. Robusta unidade de leitura de dados com tela touchscreen com recursos de software melhorados e funções de análise. O Equotip 540 uso regular sem grande necessidade de relatórios.	Descrição O dispositivo para ensaio de dureza Portable Rockwell é aplicado para peças de pequena espessura, polidas e leves. Ele disponibiliza sensibilidade excelente através da uma penetração mínima de alguns micrômetros. Robusta unidade de leitura de dados com tela touchscreen com recursos de software melhorados e funções de análise.	Descrição O versátil equipamento de dureza Leeb é apropriado para ensaios "in situ" de materiais pesados, grandes ou para peças já instaladas. Robusta unidade de leitura de dados com tela touchscreen desenvolvida para disponibilizar uma experiência excepcional ao usuário de medição e análise melhores possíveis. Recursos de software melhorados e funções de análise. O Equotip 540 uso regular sem grande necessidade de relatórios.	Descrição Dispositivo para ensaio de dureza prático e totalmente integrado com uma carcaça compacta e robusta. Ideal para ensaios de dureza rápidos "in situ". Sonda DL opcional para espaços confinados e superfícies com reentrâncias. Equotip Piccolo 2 permite a transferência dos dados para um PC.
	Saiba mais	Saiba mais
Suas vantagens	Suas vantagens Sonda UCI sem fio Compartilhe as suas medições e relatórios imediatamente Registros para a rastreabilidade completa dos dados	Suas vantagens Dispositivo de impacto sem fio e interface do usuário clean Compartilhe facilmente as suas medições e relatórios em tempo real com o mundo todo Livro de registros para rastreabilidade total dos dados e para adicionar mídia	Suas vantagens Combine com Leeb e Portable Rockwell Retorno na tela para reduzir as imprecisões da medição causadas pelo operador Relatórios prontos para o uso através do poderoso recurso de relatórios integrado	Suas vantagens Combine com Leeb e UCI Igualmente confiável, preciso e padronizado, mas mais rápido do que os dispositivos de ensaio de dureza estacionários Rockwell Relatórios prontos para o uso através do poderoso recurso de relatórios integrado	Suas vantagens Utilize com o portfólio de sondas Leeb completo e combine com Portable Rockwell e UCI Vem com a alta acurácia conhecida em todos os produtos Equotip Relatórios prontos para o uso através de poderoso recurso de relatórios integrado	Suas vantagens Modelo de entrada para ensaios rápidos “in situ” A carcaça compacta e correção automática do ângulo de impacto permitem utilização flexível Vem com a alta acurácia conhecida em todos os produtos Equotip
Escala nativa	Escala nativa HV (UCI)	Escala nativa HL	Escala nativa HV (UCI)	Escala nativa μm, µpol	Escala nativa HL	Escala nativa HL
Escalas disponíveis	Escalas disponíveis HB, HV, HLD, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, MPA	Escalas disponíveis HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA	Escalas disponíveis HB, HV, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, MPA	Escalas disponíveis HB, HV, HRA, HRB, HRC, R15N, HR15T, HMMRC, MPA	Escalas disponíveis HB, HV, HRA, HRB, HRC, HS, MPA	Escalas disponíveis HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA (apenas Equotip Piccolo 2)
Sondas disponíveis	Sondas disponíveis Sonda universal com carga de teste ajustável entre HV1 e HV10	Sondas disponíveis Leeb D	Sondas disponíveis UCI (Adjustable HV1 - HV10)	Sondas disponíveis Portable Rockwell (50N)	Sondas disponíveis Leeb D / DC / DL / S / E / G / C	Sondas disponíveis Leeb D / DL
Combinação com outros métodos	Combinação com outros métodos	Combinação com outros métodos	Combinação com outros métodos Leeb, Portable Rockwell	Combinação com outros métodos Leeb, UCI	Combinação com outros métodos Portable Rockwell, UCI	Combinação com outros métodos
Rugosidade média Ra (µm / µpol)	Rugosidade média Ra (µm / µpol) 12.5 / 500	Rugosidade média Ra (µm / µpol) 2 / 80	Rugosidade média Ra (µm / µpol) 12.5 / 500	Rugosidade média Ra (µm / µpol) 2 / 80	Rugosidade média Ra (µm / µpol) 7 / 275 (Leeb G)	Rugosidade média Ra (µm / µpol) 2 / 80
Massa mínima (kg / lbs)	Massa mínima (kg / lbs) 0.3 / 0.66	Massa mínima (kg / lbs) 0.05 / 0.2	Massa mínima (kg / lbs) 0.3 / 0.66	Massa mínima (kg / lbs) Sem requisitos	Massa mínima (kg / lbs) 0.02 / 0.045 (Leeb C)	Massa mínima (kg / lbs) 0.05 / 0.2
Espessura mín. (mm / pol.)	Espessura mín. (mm / pol.) 5 / 0.2	Espessura mín. (mm / pol.) 3 / 0.12	Espessura mín. (mm / pol.) 5 / 0.2	Espessura mín. (mm / pol.) 10 x profundidade da indentação	Espessura mín. (mm / pol.) 1 / 0.04 (Leeb C)	Espessura mín. (mm / pol.) 3 / 0.12

Aplicações

	Equotip Live UCI	Equotip Live Leeb D	Equotip 550 UCI	Equotip 550 Portable Rockwell	Equotip 550 Leeb	Equotip Piccolo / Bambino 2

Objetos planos	Objetos planos	Objetos planos	Objetos planos	Objetos planos	Objetos planos	Objetos planos
Objetos curvos	Objetos curvos	Objetos curvos Em combinação com anéis de suporte	Objetos curvos	Objetos curvos Combinado com pé de apoio especial	Objetos curvos Em combinação com anéis de suporte	Objetos curvos Em combinação com anéis de suporte
Objetos leves ( <2kg)	Objetos leves ( <2kg)	Objetos leves ( <2kg)	Objetos leves ( <2kg)	Objetos leves ( <2kg)	Objetos leves ( <2kg) Com dispositivo de impacto Leeb C	Objetos leves ( <2kg)
Objetos muito duros	Objetos muito duros	Objetos muito duros	Objetos muito duros	Objetos muito duros	Objetos muito duros Com dispositivos de impacto Leeb S e E	Objetos muito duros
Objetos fundidos	Objetos fundidos	Objetos fundidos	Objetos fundidos	Objetos fundidos	Objetos fundidos Com dispositivos de impacto Leeb G e D	Objetos fundidos
Objetos polidos	Objetos polidos	Objetos polidos	Objetos polidos	Objetos polidos	Objetos polidos Com dispositivo de impacto Leeb C	Objetos polidos
Acessibilidade limitada	Acessibilidade limitada	Acessibilidade limitada	Acessibilidade limitada	Acessibilidade limitada	Acessibilidade limitada Com dispositivos de impacto Leeb DC e DL	Acessibilidade limitada Com dispositivo de impacto Leeb DL
Objetos finos ( <5mm)	Objetos finos ( <5mm)	Objetos finos ( <5mm)	Objetos finos ( <5mm)	Objetos finos ( <5mm)	Objetos finos ( <5mm)	Objetos finos ( <5mm)
Superfícies tratadas a quente	Superfícies tratadas a quente	Superfícies tratadas a quente	Superfícies tratadas a quente	Superfícies tratadas a quente	Superfícies tratadas a quente	Superfícies tratadas a quente
Aplicações adicionais	Aplicações adicionais	Aplicações adicionais Para ambientes da Internet of Things (IoT) e da Indústria 4.0 Flanges, blocos de motor, eixos, engrenagens, trens de pouso, ensaio em cilindros, bobinas, barras, tubos e tratamento térmico	Aplicações adicionais	Aplicações adicionais	Aplicações adicionais	Aplicações adicionais

Características

	Equotip Live UCI	Equotip Live Leeb D	Equotip 550 UCI	Equotip 550 Portable Rockwell	Equotip 550 Leeb	Equotip Piccolo / Bambino 2

Firmware do instrumento	Firmware do instrumento Aplicativo iOS incluindo atualizações gratuitas (visite live.proceq.com para informações de compatibilidade) Pontos de acesso com atalhos pré-definidos Saída de áudio para as medições permitem que se mantenha o dispositivo móvel no bolso Guias na tela Compensação automática para a direção do impacto Verificação e informações de calibração para maior confiabilidade	Firmware do instrumento Aplicativo iOS incluindo atualizações gratuitas Teclas com atalhos pré-definidos Saída de áudio para as medições permitem que se mantenha o dispositivo móvel no bolso Guias na tela Compensação automática para a direção do impacto Verificação e informações de calibração para maior confiabilidade	Firmware do instrumento Visualização de perfil Calibração em um único passo Compensação automática para a direção do impacto Perfis de usuários e visualizações personalizadas Integração em ambientes de ensaio automatizados (incl. controle remoto) Suporta 11 idiomas e fusos horários	Firmware do instrumento Perfis de usuários e visualizações personalizadas Integração em ambientes de ensaio automatizados (incl. controle remoto) Suporta 11 idiomas e fusos horários	Firmware do instrumento Compensação automática para a direção do impacto Perfis de usuários e visualizações personalizadas Integração em ambientes de ensaio automatizados (incl. controle remoto) Suporta 11 idiomas e fusos horários	Firmware do instrumento Compensação automática para a direção do impacto Integração em ambientes de ensaio automatizados (incl. controle remoto): Apenas Equotip Piccolo 2 Independente de idioma
Software do PC	Software do PC Solução Equotip Live baseado em navegador da web	Software do PC Solução Equotip Live baseado em navegador da web	Software do PC Equotip Link permite relatórios diretos e personalizados	Software do PC Equotip Link permite relatórios diretos e personalizados	Software do PC Equotip Link permite relatórios diretos e personalizados	Software do PC Software Piccolink (apenas Equotip Piccolo 2)
Display	Display Qualquer dispositivo iOS (não fornecido)	Display Qualquer dispositivo iOS (não fornecido)	Display Robusta unidade de leitura de dados com tela touchscreen de 7” colorida (800 x 480 pixels) com processador dual core	Display Robusta unidade de leitura de dados com tela touchscreen de 7” colorida (800 x 480 pixels) com processador dual core	Display Robusta unidade de leitura de dados com tela touchscreen de 7” colorida (800 x 480 pixels) com processador dual core	Display Monocromático de 4 dígitos
Firmware do instrumento	Firmware do instrumento Memória do dispositivo iOS	Firmware do instrumento Memória do dispositivo iOS	Firmware do instrumento Memória flash interna 8 GB (> 1.000.000 medições)	Firmware do instrumento Memória flash interna 8 GB (> 1.000.000 medições)	Firmware do instrumento Memória flash interna 8 GB (> 1.000.000 medições)	Firmware do instrumento 32 KB (~ 2.000 medições) (apenas o Equotip Piccolo 2)
Conexões	Conexões USB para carregar e atualizações	Conexões USB para carregar e atualizações	Conexões Host USB / dispositivo USB e Ethernet	Conexões Host USB / dispositivo USB e Ethernet	Conexões Host USB / dispositivo USB e Ethernet	Conexões Interface USB para PC
Faixa de medição	Faixa de medição 20 – 2000 HV	Faixa de medição 150 – 950 HL	Faixa de medição 20 - 2000 HV	Faixa de medição 0-100 µm; 19-70 HRC; 35-1.000 HV	Faixa de medição 150 – 950 HL	Faixa de medição 150 – 950 HL
Precisão da medição	Precisão da medição ± 2% (150 – 950 HV)	Precisão da medição ± 4 HL (0,5% a 800 HL)	Precisão da medição ± 2% (150 - 950 HV)	Precisão da medição ± 0.8 µm; ~ ± 1.0 HRC	Precisão da medição ± 4 HL (0.5% a 800 HL)	Precisão da medição ± 4 HL (0,5% a 800 HL)

Normatização

	Equotip Live UCI	Equotip Live Leeb D	Equotip 550 UCI	Equotip 550 Portable Rockwell	Equotip 550 Leeb	Equotip Piccolo / Bambino 2

Padrões	Padrões ASTM A 1038 ASTM E 140 DIN 50159 ISO 18265 GB/T 34205-2017	Padrões ASTM A 956 ASTM E 140 ASTM A 370 ISO 16859 JB/T 9378 GB/T 17394 DIN 50156	Padrões ASTM A 1038 ASTM E 140 DIN 50159 ISO 18265 GB/T 34205-2017	Padrões DIN 50157	Padrões ASTM A 956 ASTM E 140 ASTM A 370 ISO 16859 DIN 50156 GB/T 17394 JB/T 9378	Padrões ASTM A 956 ASTM E 140 ASTM A 370 ISO 16859 DIN 50156 GB/T 17394 JB/T 9378
Diretrizes	Diretrizes Diretriz MC 1 DGZfP Diretriz VDI / VDE 2616 Documento 1 ASME CRTD-91	Diretrizes ASME CRTD-91 Diretriz MC 1 DGZfP Diretriz VDI / VDE 2616 Documento 1 Nordtest Technical Reports 424-1, 424-2, 424-3	Diretrizes ASME CRTD-91 Diretriz MC 1 DGZfP Diretriz VDI / VDE 2616 Documento 1 Nordtest Technical Reports 424-1, 424-2, 424-3	Diretrizes Diretriz MC 1 DGZfP Diretriz VDI / VDE 2616 Documento 1 Nordtest Technical Reports 424-1, 424-2, 424-3	Diretrizes ASME CRTD-91 Diretriz MC 1 DGZfP Diretriz VDI / VDE 2616 Documento 1 Nordtest Technical Reports 424-1, 424-2, 424-3	Diretrizes ASME CRTD-91 Diretriz MC 1 DGZfP Diretriz VDI / VDE 2616 Documento 1 Nordtest Technical Reports 424-1, 424-2, 424-3

Acessórios

	Equotip Live UCI	Equotip Live Leeb D	Equotip 550 UCI	Equotip 550 Portable Rockwell	Equotip 550 Leeb	Equotip Piccolo / Bambino 2

Acessórios de medição	Acessórios de medição	Acessórios de medição Dispositivo de impacto Equotip Live Leeb D (358 00 101) Kit de anéis de suporte (353 03 000)	Acessórios de medição Sonda Equotip UCI HV1-HV10 (356 00 700) Base especial do Equotip UCI (356 00 720) Bateria completa (327 01 033) Carregador rápido (externo) (327 01 053) Kits 2-em-1 Ofertas especiais: Kit Equotip 550 Portable Rockwell & UCI (356 10 020), Kit Equotip 550 Leeb D & UCI (356 10 022)	Acessórios de medição Sonda Equotip Portable Rockwell 50N (para Equotip 550 ou PC) (356 00 600) Alicate de medição Equotip Portable Rockwell (354 01 200) Base especial Equotip Portable Rockwell RZ 18 - 70 (354 01 250) Base especial Equotip Portable Rockwell RZ 70 - ∞ (354 01 253) Bateria completa (327 01 033) Carregador rápido (externo) (327 01 053) Kits 2-em-1 Ofertas especiais: Kit Equotip 550 Portable Rockwell & UCI (356 10 020), Kit Equotip 550 Portable Rockwell & Leeb D (356 10 021)	Acessórios de medição Dispositivo de impacto Equotip Leeb D (356 00 100) Dispositivo de impacto Equotip Leeb E (356 00 400) Dispositivo de impacto Equotip Leeb G (356 00 300) Kit de anéis de suporte (353 03 000) Bateria completa (327 01 033) Carregador rápido (externo) (327 01 053) Kits 2-em-1 Ofertas especiais: Kit Equotip 550 Portable Rockwell & Leeb D (356 10 021), Kit Equotip 550 Leeb D & UCI (356 10 022)	Acessórios de medição Kit de acessórios Equotip Piccolo 2/Bambino 2 DL (352 95 021) Kit de anéis de suporte (353 03 000)
Acessórios de verificação	Acessórios de verificação	Acessórios de verificação Bloco de teste Equotip D/DC, ~775 HLD / ~56 HRC, Calibrações de fábrica pela Proceq (357 13 100)	Acessórios de verificação Bloco de teste Equotip UCI ~850HV, ISO 6507- 3 calibração HV5 (357 54 100)	Acessórios de verificação Bloco de teste Equotip Rockwell Portátil ~62 HRC, ISO 6508-3 calibração HRC (357 44 100)	Acessórios de verificação Bloco de teste Equotip E, ~810 HLE / ~63 HRC (357 14 400) Bloco de teste Equotip G, ~570 HLG / ~340 HB (357 32 300) Bloco de teste Equotip D/DC, ~775 HLD / ~56 HRC (357 13 100)	Acessórios de verificação Bloco de teste Equotip D/DC, ~775 HLD / ~56 HRC, Calibrações de fábrica pela Proceq (357 13 100)

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	Equotip Live UCI	Equotip Live Leeb D	Equotip 550 UCI	Equotip 550 Portable Rockwell	Equotip 550 Leeb	Equotip Piccolo / Bambino 2

Documentos	Documentos Equotip Live Sales Flyer Equotip Live UCI Quick Start Guide Metal Sales Flyer	Documentos Equotip Live Leeb D Quick Start Guide Equotip Live Sales Flyer Metal Sales Flyer	Documentos Equotip 550 Certificates Equotip 550 Quick Start Guide Equotip 550 Sales Flyer Equotip 550 incl. Leeb U Operating Instructions Metal Sales Flyer Quick Charger Operating Instructions	Documentos Equotip 550 Certificates Equotip 550 Quick Start Guide Equotip 550 Sales Flyer Equotip 550 incl. Leeb U Operating Instructions Metal Sales Flyer Quick Charger Operating Instructions	Documentos Equotip 550 Certificates Equotip 550 Quick Start Guide Equotip 550 Sales Flyer Equotip 550 incl. Leeb U Operating Instructions Metal Sales Flyer Quick Charger Operating Instructions Rock Testing Sales Flyer	Documentos Equotip Piccolo Bambino 2 Operating Instructions Equotip Piccolo Bambino 2 Quick Start Guide Equotip Piccolo Bambino 2 Sales Flyer Metal Sales Flyer
Software	Software PqUpgrade_Setup_V_1_4_14 PqUpgrade_Setup_V_1_4_14 PqUpgrade_Setup_V_1_4_14 PqUpgrade_Setup_V_1_4_14	Software PqUpgrade_Setup_V_1_4_14 PqUpgrade_Setup_V_1_4_14 PqUpgrade_Setup_V_1_4_14 PqUpgrade_Setup_V_1_4_14	Software EquotipLink Setup V1.4.10 PqRemote V1.2.0	Software EquotipLink Setup V1.4.10 PqRemote V1.2.0	Software EquotipLink Setup V1.4.10 PqRemote V1.2.0	Software Piccolink Setup V3.1.0
Midia	Midia Equotip Live Logbook Equotip Live Picture Equotip Live UCI Equotip Live UCI Application 01	Midia Equotip Live Leeb D Equotip Live Leeb D Application 01 Equotip Live Logbook	Midia Equotip 550 UCI Application 01	Midia Equotip 550 Portable Rockwell	Midia Equotip 550 Leeb Application 01	Midia Equotip Piccolo Bambino 2 Application 01

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