Ru
Image of metal surface

Ультразвуковые толщиномеры и дефектоскопы, работающие с классическими и TOFD датчиками, а также фазированными решетками

Proceq UT8000 Ultrasonic Flaw Detector with iPad

Для измерения толщины, определения свойств материалов и дефектоскопии в таких образцах, как поковки, композитные материалы, пластик и сварные соединения

Неправильная инспекция или не проведенная инспекция подвергает риску целостность ваших компонентов. Современные ультразвуковые дефектоскопы и толщиномеры Proceq - это интуитивные измерительные решения для обеспечения целостности деталей. Дефектоскоп Proceq Flaw Detector 100 - это универсальный высокотехнологичный ультразвуковой инспекционный прибор. Базовая модель для ультразвуковой дефектоскопии (UT) может быть в любой момент модернизирована до работы с дифракционно-временным методом (TOFD) и режимом фазированной дифракционной решетки (PA). Zonotip с ударопрочным корпусом и быстрым процессором обеспечивает надежное измерение толщины материалов, в т. ч. ферромагнитных и неферромагнитных металлов, полимеров, композиционных материалов, стекла, керамики и эпоксидных смол.

Proceq UT8000
Proceq Flaw Detector 100 UT
Дефектоскоп Proceq 100 TOFD
Proceq Flaw Detector 100 PA 16:16
Proceq Flaw Detector 100 PA 16:64
Zonotip(+)
Описание
Описание

Proceq UT8000 is the quickest to setup and report with, most collaborative and only flaw detector that helps managers ensure proper inspection procedures.

Описание

Дефектоскоп Proceq 100 оснащен большим дисплеем, который отображает A-сканы с двух встроенных каналов. Использование прибора является простым и эффективным благодаря программам-ассистентам и файлу активной справки. Планы 3D-сканирования помогают создать процедуры инспекции и проанализировать результаты.

Описание

Использование дефектоскопа Proceq 100 TOFD обеспечивает высочайшие эксплуатационные характеристики дифракционно-временного метода (TOFD). Два канала позволяют производить инспекцию толстых деталей за один проход. Высокочастотные датчики можно использовать для получения точных размеров дефектов.

Описание

Использование дефектоскопа Proceq 100 PA 16:16 расширяет спектр вариантов применения, которые можно настраивать, выполнять и анализировать при помощи встроенных программ-ассистентов и руководств для пользователей. Для пользователей, которые хотят узнать о возможностях фазовой дифракционной решетки или отобразить секторное сканирование.

Описание

Использование дефектоскопа Proceq 100 PA 16:64 обеспечивает еще большую гибкость при настройке. Дополнительное мультиплексирование обеспечивает преимущества при L-сканировании для картирования коррозии и при контроле целостности крупных композитных панелей.

Описание

Zonotip предназначен для определения толщины широкого диапазона материалов. Его высококонтрастный цветной дисплей обеспечивает визуальный контроль процесса инспекции. Zonotip+ включает небольшой одноэлементный преобразователь, который может выполнять измерения на участках с ограниченным доступом.

Преимущества для вас
Преимущества для вас
Гибкий размер экрана для непревзойденной мобильности. Объединение вашего устройства в зависимости от предполагаемого использования.

Гибкий размер экрана для непревзойденной мобильности. Объединение вашего устройства в зависимости от предполагаемого использования.

Помощники на основе касания ускоряют калибровку. Создавайте отчеты и делитесь ими мгновенно.

Помощники на основе касания ускоряют калибровку. Создавайте отчеты и делитесь ими мгновенно.

Корпуса IP67 и Mil-STD испытаны на падение. С нашим практичным решением батареи никогда не пропадет питание.

Корпуса IP67 и Mil-STD испытаны на падение. С нашим практичным решением батареи никогда не пропадет питание.

Преимущества для вас
Простой код для обновления в любое время для использования дифракционно-временного метода (TOFD) и метода фазовой дифракционной решетки (PA)

Простой код для обновления в любое время для использования дифракционно-временного метода (TOFD) и метода фазовой дифракционной решетки (PA)

Ширина полосы до 200 кГц для испытания слабых материалов, дополнительно 2-канальное кодирование для записи данных

Ширина полосы до 200 кГц для испытания слабых материалов, дополнительно 2-канальное кодирование для записи данных

Улучшенная прослеживаемость с автоматическим созданием отчетов

Улучшенная прослеживаемость с автоматическим созданием отчетов

Преимущества для вас
Вы платите только за нужные опции

Вы платите только за нужные опции

Новые возможности, в частности, подавление и выпрямление боковых волн

Новые возможности, в частности, подавление и выпрямление боковых волн

Одновременный двухканальный контроль дифракционно-временным методом (TOFD)

Одновременный двухканальный контроль дифракционно-временным методом (TOFD)

Преимущества для вас
Высокий уровень эффективности при обнаружении дефектов с помощью фазовой дифракционной решетки

Высокий уровень эффективности при обнаружении дефектов с помощью фазовой дифракционной решетки

Возможности получения изображений с помощью сканов A, B, C, True Top и End охватывают различные варианты применения

Возможности получения изображений с помощью сканов A, B, C, True Top и End охватывают различные варианты применения

План 3D-сканирования помогает визуализировать зону действия луча фазовой дифракционной решетки в компоненте

План 3D-сканирования помогает визуализировать зону действия луча фазовой дифракционной решетки в компоненте

Преимущества для вас
Совместимость с любым 64-элементным датчиком фазовой дифракционной решетки

Совместимость с любым 64-элементным датчиком фазовой дифракционной решетки

Простое конфигурирование за 30 секунд

Простое конфигурирование за 30 секунд

C-сканы можно отображать в виде амплитуды или глубины. С совмещенными C-сканами данные отображаются для всех контрольных проходов в одном режиме отображения

C-сканы можно отображать в виде амплитуды или глубины. С совмещенными C-сканами данные отображаются для всех контрольных проходов в одном режиме отображения

Преимущества для вас
Просто настраивать и использовать

Просто настраивать и использовать

Режим A-сканирования позволяет выполнять более подробный анализ показаний (только Zonotip+)

Режим A-сканирования позволяет выполнять более подробный анализ показаний (только Zonotip+)

Прочный корпус для сложных погодных условий (морозостойкость и теплостойкость)

Прочный корпус для сложных погодных условий (морозостойкость и теплостойкость)

Конфигурация
Конфигурация

1 канал ультразвуковой дефектоскопии (UT)

Конфигурация

2 канала ультразвуковой дефектоскопии (UT)

Конфигурация

2 канала ультразвуковой дефектоскопии (UT)

Конфигурация

16:16 каналов

Конфигурация

16:64 каналов

Конфигурация

1 канал ультразвуковой дефектоскопии (UT)

Разъем преобразователя
Разъем преобразователя

Lemo 00

Разъем преобразователя

Разъем Lemo 1 и BNC-разъем

Разъем преобразователя

Разъем Lemo 1 и байонетный разъем (BNC)

Разъем преобразователя

UT/TOFD: Разъем Lemo 1 и байонетный разъем (BNC) PA: I-PEX

Разъем преобразователя

UT/TOFD: Разъем Lemo 1 и байонетный разъем (BNC) PA: I-PEX

Разъем преобразователя

Lemo 00

Модулирующее напряжение
Модулирующее напряжение

400 В

Модулирующее напряжение

от -100 до -450 В (шагами по 10 В)

Модулирующее напряжение

от -100 до -450 В (шагами по 10 В)

Модулирующее напряжение

UT/TOFD: от -100 до -450 В (шагами по 10 В) PA: от -25 до -75 В (шагами по 5 В)

Модулирующее напряжение

'UT/TOFD: от -100 до -450 В (шагами по 10 В) PA: от -25 до -75 В (шагами по 5 В)

Модулирующее напряжение
PRF
PRF

2000 Гц

PRF

1 – 1500 Гц

PRF

1 – 1500 Гц

PRF

UT/TOFD: 1 – 1500 Гц PA: 1 – 5000 Гц

PRF

UT/TOFD: 1 – 1500 Гц PA: 1 – 5000 Гц

PRF
Диапазон усиления
Диапазон усиления

0–110 дБ

Диапазон усиления

100 дБ (шаги 0,1 дБ)

Диапазон усиления

100 дБ (шаги 0,1 дБ)

Диапазон усиления

UT/TOFD: 100 дБ (шаги 0,1 дБ) PA: 76 дБ (шаги 0,1 дБ)

Диапазон усиления

UT/TOFD: 100 дБ (шаги 0,1 дБ) PA: 76 дБ (шаги 0,1 дБ)

Диапазон усиления

80 дБ (шаги 1 дБ)

Диапазон частот
Диапазон частот

0,5–20 МГц

Диапазон частот

200 кГц – 22 МГц

Диапазон частот

200 кГц – 22 МГц

Диапазон частот

UT/TOFD: 200 кГц – 22 МГц PA: 200 кГц – 14 МГц

Диапазон частот

UT/TOFD: 200 кГц – 22 МГц PA: 200 кГц – 14 МГц

Диапазон частот
Proceq UT8000
Proceq Flaw Detector 100 UT
Дефектоскоп Proceq 100 TOFD
Proceq Flaw Detector 100 PA 16:16
Proceq Flaw Detector 100 PA 16:64
Zonotip(+)
Сварные швы трубопроводов
Сварные швы трубопроводов
Сварные швы трубопроводов
Сварные швы трубопроводов
Сварные швы трубопроводов
Сварные швы трубопроводов
Сварные швы трубопроводов
Инспекция деталей широкого применения
Инспекция деталей широкого применения
Инспекция деталей широкого применения
Инспекция деталей широкого применения
Инспекция деталей широкого применения
Инспекция деталей широкого применения
Инспекция деталей широкого применения
Сложные геометрические формы
Сложные геометрические формы
Сложные геометрические формы
Сложные геометрические формы
Сложные геометрические формы
Сложные геометрические формы
Сложные геометрические формы
Литые и кованые детали
Литые и кованые детали
Литые и кованые детали
Литые и кованые детали
Литые и кованые детали
Литые и кованые детали
Литые и кованые детали
Разделение слоев деталей из композиционных материалов для самолетов
Разделение слоев деталей из композиционных материалов для самолетов
Разделение слоев деталей из композиционных материалов для самолетов
Разделение слоев деталей из композиционных материалов для самолетов
Разделение слоев деталей из композиционных материалов для самолетов
Разделение слоев деталей из композиционных материалов для самолетов
Разделение слоев деталей из композиционных материалов для самолетов
Инспекция с картированием коррозии
Инспекция с картированием коррозии
Инспекция с картированием коррозии
Инспекция с картированием коррозии
Инспекция с картированием коррозии
Инспекция с картированием коррозии
Инспекция с картированием коррозии
Толщина материалов
Толщина материалов
Толщина материалов
Толщина материалов
Толщина материалов
Толщина материалов
Толщина материалов
Инспекция под покрытиями
Инспекция под покрытиями
Инспекция под покрытиями
Инспекция под покрытиями
Инспекция под покрытиями
Инспекция под покрытиями
Инспекция под покрытиями
Только Zonotip+
Proceq UT8000
Proceq Flaw Detector 100 UT
Дефектоскоп Proceq 100 TOFD
Proceq Flaw Detector 100 PA 16:16
Proceq Flaw Detector 100 PA 16:64
Zonotip(+)
Дисплей
Дисплей

Любое совместимое устройство iPad от Apple® (iOS 10 или выше)

Дисплей

TFT 8.4"

Дисплей

TFT 8.4"

Дисплей

TFT 8,4"

Дисплей

TFT 8.4"

Дисплей

TFT

Память
Память

До 1 ТБ (в зависимости от модели iPad)

Память
Память
Память
Память
Память
Разъемы
Разъемы

Зашифрованное соединение Wi-Fi с iPad

Разъемы
Разъемы
Разъемы
Разъемы
Разъемы
Выделение сигнала из шума
Выделение сигнала из шума

Цифровые фильтры, отбраковка, усреднение

Выделение сигнала из шума

Цифровые фильтры, сглаживание, построение контура, отбраковка, определение средних значений

Выделение сигнала из шума

Цифровые фильтры, сглаживание, построение контура, отбраковка, определение средних значений

Выделение сигнала из шума

Цифровые фильтры, сглаживание, построение контура, отбраковка

Выделение сигнала из шума

Цифровые фильтры, сглаживание, построение контура, отбраковка

Выделение сигнала из шума

Режим "эхо-эхо" (только Zonotip+)

Архитектура
Архитектура

1 канал

Архитектура

2 канала, истинная частота выборки 200 МГц

Архитектура

1 канал, истинная частота выборки 200 МГц

Архитектура

16 активных каналов

Архитектура

16 активных каналов, мультиплексированных более 64

Архитектура

1 канал

Частота оцифровки
Частота оцифровки

125 МГц

Частота оцифровки

50 МГц, 100 МГц, 200 МГц

Частота оцифровки

50 МГц, 100 МГц, 200 МГц

Частота оцифровки

65 МГц

Частота оцифровки

65 МГц

Частота оцифровки
Фокальные длины
Фокальные длины
Фокальные длины
Фокальные длины
Фокальные длины

128

Фокальные длины

128

Фокальные длины
Макс. длина A-скана
Макс. длина A-скана
Макс. длина A-скана

8192

Макс. длина A-скана

8192

Макс. длина A-скана

4096

Макс. длина A-скана

4096

Макс. длина A-скана
Поддерживаемые сканы
Поддерживаемые сканы

А-скан, сетка

Поддерживаемые сканы

A-скан

Поддерживаемые сканы

A-сканирование и дифракционно-временной метод (TOFD)

Поддерживаемые сканы

S-скан и L-скан

Поддерживаемые сканы

S-скан и L-скан

Поддерживаемые сканы

Толщина и A-скан (только Zonotip+)

Число сканирований
Число сканирований
Число сканирований

До 2

Число сканирований

1 дифракционно-временной метод + 1 обычная ультразвуковая дефектоскопия

Число сканирований

1 (до 3 извлеченных A-сканов)

Число сканирований

1 (до 3 извлеченных A-сканов)

Число сканирований
Число макетов
Число макетов
Число макетов

18

Число макетов

18

Число макетов

35

Число макетов

35

Число макетов

Zonotip: 2, Zonotip+: 3

Измерения
Измерения

Длина пути, глубина, расстояние до поверхности, DAC, AWS

Измерения

Длина пути, глубина, расстояние до поверхности, DAC, AWS, DGS

Измерения

Глубина, длина

Измерения

Длина пути, глубина, расстояние до поверхности, DAC, AWS, DGS

Измерения

Длина пути, глубина, расстояние до поверхности, DAC, AWS, DGS

Измерения

Режим нормы, режим памяти и режим A-сканирования (только Zonotip+)

Размер файла
Размер файла
Размер файла

До 3 ГБ

Размер файла

До 3 Гбайт

Размер файла

До 3 ГБ

Размер файла

До 3 Гбайт

Размер файла

Память до 50000 измерений

Создание отчетов
Создание отчетов

Показания таблицы, экспорт HTML

Создание отчетов

Индивидуализируемый pdf-отчет, снимок экрана в PNG, опция выходного файла в формате CSV

Создание отчетов

Индивидуализируемый pdf-отчет, снимок экрана в PNG, опция выходного файла в формате CSV

Создание отчетов

Индивидуализируемый pdf-отчет, снимок экрана в PNG, опция выходного файла в формате CSV

Создание отчетов

Индивидуализируемый pdf-отчет, снимок экрана в PNG, опция выходного файла в формате CSV

Создание отчетов

CSV-файл

Кодер
Кодер
Кодер

1 или 2 канала (квадратурный вход)

Кодер

1 или 2 канала (квадратурный вход)

Кодер

1 или 2 канала (квадратурный вход)

Кодер

1 или 2 канала (квадратурный вход)

Кодер

Нет

Языки
Языки

Английский, немецкий, французский, испанский, китайский, японский, корейский

Языки

Английский, немецкий, французский, испанский, русский, китайский, венгерский, итальянский, португальский и японский

Языки

Английский, немецкий, французский, испанский, русский, китайский, венгерский, итальянский, португальский и японский

Языки

Английский, немецкий, французский, испанский, русский, китайский, венгерский, итальянский, португальский и японский

Языки

Английский, немецкий, французский, испанский, русский, китайский, венгерский, итальянский, португальский и японский

Языки

Английский, немецкий, французский, испанский, русский, китайский, итальянский и португальский

Срок службы аккумуляторной батареи
Срок службы аккумуляторной батареи
Срок службы аккумуляторной батареи

7 часов

Срок службы аккумуляторной батареи

7 часов

Срок службы аккумуляторной батареи

6 часов

Срок службы аккумуляторной батареи

6 часов

Срок службы аккумуляторной батареи

9 часов

Аккумуляторная батарея
Аккумуляторная батарея

Съемный блок, 6x AA (NiMH), безопасный для полета

Аккумуляторная батарея
Аккумуляторная батарея
Аккумуляторная батарея
Аккумуляторная батарея
Аккумуляторная батарея
Срок службы аккумуляторной батареи
Срок службы аккумуляторной батареи

5 часов

Срок службы аккумуляторной батареи
Срок службы аккумуляторной батареи
Срок службы аккумуляторной батареи
Срок службы аккумуляторной батареи
Срок службы аккумуляторной батареи
Special Features
Special Features

IP67

Special Features
Special Features
Special Features
Special Features
Special Features
Proceq UT8000
Proceq Flaw Detector 100 UT
Дефектоскоп Proceq 100 TOFD
Proceq Flaw Detector 100 PA 16:16
Proceq Flaw Detector 100 PA 16:64
Zonotip(+)
Стандарты
Стандарты
  • EN 12668-1 (Характеристика и верификация испытательного оборудования для ультразвукового контроля)
  • ASTM E317 - 16 Оценка эксплуатационных характеристик ультразвуковых контрольно-измерительных приборов с импульсным эхо
Стандарты
  • EN 12668-1
  • ГОСТ 55724
  • ГОСТ 14782
Стандарты
  • EN 12668-1
  • ГОСТ 55724
  • ГОСТ 14782
Стандарты
  • EN 12668-1
  • ISO 18563-1
  • ГОСТ 55724
  • ГОСТ 14782
Стандарты
  • EN 12668-1
  • ISO 18563-1
  • ГОСТ 14782
  • ГОСТ 55724
Стандарты
  • ASTM E 797
  • EN 15317
Proceq UT8000
Proceq Flaw Detector 100 UT
Дефектоскоп Proceq 100 TOFD
Proceq Flaw Detector 100 PA 16:16
Proceq Flaw Detector 100 PA 16:64
Zonotip(+)
Измерительные приборы
Измерительные приборы

Полная совместимость с очень широким спектром обычных датчиков и сканеров

Измерительные приборы

Полная совместимость с широким диапазоном обычных датчиков и датчиков с фазированной дифракционной решеткой, а также сканеров

Измерительные приборы

Полная совместимость с широким диапазоном обычных датчиков и датчиков с фазированной дифракционной решеткой, а также сканеров

Измерительные приборы

Полная совместимость с широким диапазоном обычных датчиков и датчиков с фазированной дифракционной решеткой, а также сканеров

Измерительные приборы

Полная совместимость с широким диапазоном обычных датчиков и датчиков с фазированной дифракционной решеткой, а также сканеров

Измерительные приборы

Защитный футляр для индикаторного устройства

Проверочные инструменты
Проверочные инструменты
Проверочные инструменты
Проверочные инструменты
Проверочные инструменты
Проверочные инструменты
Проверочные инструменты
  • Ступенчатый тестовый блок (дюймы)
  • Ступенчатый тестовый блок (мм)
дополнительные принадлежности
дополнительные принадлежности
  • Держатель планшета
  • Аккумуляторная батарея
дополнительные принадлежности
дополнительные принадлежности
дополнительные принадлежности
дополнительные принадлежности
дополнительные принадлежности
Proceq UT8000
Proceq Flaw Detector 100 UT
Дефектоскоп Proceq 100 TOFD
Proceq Flaw Detector 100 PA 16:16
Proceq Flaw Detector 100 PA 16:64
Zonotip(+)
Документы
Документы
Документы
Документы
Документы
Документы
Документы
Программное обеспечение
Программное обеспечение
Программное обеспечение
Программное обеспечение
Программное обеспечение
Программное обеспечение
Программное обеспечение
Пресс-релиз
Пресс-релиз
Пресс-релиз
Пресс-релиз
Пресс-релиз
Пресс-релиз
Пресс-релиз
Proceq UT8000
Proceq Flaw Detector 100 UT
Дефектоскоп Proceq 100 TOFD
Proceq Flaw Detector 100 PA 16:16
Proceq Flaw Detector 100 PA 16:64
Zonotip(+)