
Equotip-портативный твердомер для металлов, работающий по методам Leeb, Rockwell и UCI
Избавьтесь от ограничений стационарных твердомеров
Equotip компании Proceq позволяет производить проверку практически любого объекта, полированных деталей и термообработанных поверхностей. Измерение твердости выполняется с использованием динамического метода отскока по Leeb, статического метода определения твердости по Portable Rockwell и метода ультразвукового контактного импеданса (UCI). Прочные твердомеры, произведенные в Швейцарии, предназначены для определения твердости в лаборатории портативными средствами, в мастерской, на производстве и на площадке. Последняя новинка компании Proceq - это совершенно новое решение Equotip Live с использованием Bluetooth для установления соединения с приложением iOS и самой современной технологией синхронизации.
С изобретением компанией Proceq принципа испытания по Leeb в 1975 году Equotip утвердился как признанная во всем мире измерительная техника для определения твердости портативными средствами и стал де-факто промышленным стандартом. Широкий ассортимент различных датчиков, а также всеобъемлющий выбор мер твердости и комплектующих удовлетворяют практически любые потребности.
![]() Equotip Live UCI |
![]() Equotip Live Leeb D |
![]() Equotip 550 Leeb |
![]() Equotip 550 Portable Rockwell |
![]() Equotip 550 UCI |
![]() Equotip Piccolo / Bambino 2 |
Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
---|
Описание |
Описание
Equotip Live UCI предоставляет новые возможности в твердометрии. Приложение Equotip для iOS позволяет выполнять измерения удаленно и мгновенно предоставлять вашим коллегам доступ к полученным вами результатам. |
Описание
Первое в мире портативное беспроводное решение для измерения твердости, предназначенное для Интернета вещей (IoT), с интуитивным пользовательским интерфейсом, а также возможностью обмена данными в режиме реального времени и облачного хранения резервной копии. Суперудобный портативный твердомер Equotip Live Leeb D прекрасно подходит для использования в ограниченных пространствах. |
Описание
Универсальный твердомер по Leeb для испытания тяжелых, крупных или смонтированных деталей на площадке. Прочный сенсорный экран предназначен для исключительного взаимодействия с пользователем и наиболее точных измерений и анализа. Расширенные свойства программного обеспечения и аналитические функции. Equotip 540 для регулярного базового применения, когда отсутствует необходимость получения обширных отчетов. |
Описание
Портативный твердомер по Rockwell для поверхностей, чувствительных к царапинам, полированных и тонких деталей. Отличается высочайшей чувствительностью при минимальном проникновении в материал - несколько микрометров. Прочный сенсорный экран с расширенными возможностями программного обеспечения и аналитическими функциями. |
Описание
Универсальный твердомер UCI для материалов с мелкозернистой структурой любой формы и для термически обработанных поверхностей. Запатентованный регулируемый тестовый заряд обеспечивает широкий диапазон возможностей применения. Прочный сенсорный экран с расширенными возможностями программного обеспечения и аналитическими функциями. Equotip 540 для регулярного базового применения, когда отсутствует |
Описание
Полностью интегрированный и удобный твердомер по Leeb с компактным и прочным корпусом. Идеально подходит для быстрого определения твердости на площадке. Опциональный датчик DL для ограниченного пространства и поверхностей с углублениями. Equotip Piccolo 2 позволяет передавать данные на ПК. |
|
|
|
|
|||
Преимущества для вас |
Преимущества для вас
![]() Беспроводной датчик UCI ![]() Возможность мгновенно делиться результатами измерений и отчетами ![]() Журнал для удобства отслеживания данных |
Преимущества для вас
![]() Беспроводной твердомер с понятным пользовательским интерфейсом ![]() С легкостью делитесь своими измерениями и отчетами с коллегами по всему миру в режиме реального времени ![]() Журнал для отслеживания данных и добавления файлов мультимедиа |
Преимущества для вас
![]() Воспользуйтесь полным ассортиментом датчиков Leeb и комбинируйте их с датчиками Portable Rockwell и UCI ![]() Производит измерения с высокой точностью, которой знамениты все изделия Equotip ![]() Готовые отчеты благодаря мощному встроенному инструменту создания отчетов |
Преимущества для вас
![]() Комбинирование с датчиками Leeb и UCI ![]() Такая же надежность, точность и соответствие стандартам, как у стационарных твердомеров по Rockwell, но большая скорость ![]() Готовые отчеты благодаря мощному встроенному инструменту создания отчетов |
Преимущества для вас
![]() Комбинирование с датчиками Leeb и Portable Rockwell ![]() Экранная обратная связь для снижения количества неточностей измерения вследствие ошибок оператора ![]() Готовые отчеты благодаря мощному встроенному инструменту создания отчетов |
Преимущества для вас
![]() Модель начального уровня для быстрых испытаний на объекте ![]() Компактный корпус и автоматическая коррекция угла обеспечивают универсальность использования ![]() Производит измерения с высокой точностью, которой знамениты все изделия Equotip |
Встроенная шкала |
Встроенная шкала
HV (UCI-метод) |
Встроенная шкала
HL |
Встроенная шкала
HL |
Встроенная шкала
мкм, мкдюйм |
Встроенная шкала
HV (UCI-метод) |
Встроенная шкала
HL |
Доступные шкалы |
Доступные шкалы
HB, HV, HLD, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, МПа |
Доступные шкалы
HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA |
Доступные шкалы
HB, HV, HRA, HRB, HRC, HS, MPA |
Доступные шкалы
HB, HV, HRA, HRB, HRC, R15N, HR15T, HMMRC, MPA |
Доступные шкалы
HB, HV, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, МПа |
Доступные шкалы
HB, HV, HRB, HRC, HS, МПа (только Equotip Piccolo 2) |
Имеются датчики |
Имеются датчики
Универсальный датчик с регулируемой нагрузкой в диапазоне от HV1 до HV10 |
Имеются датчики
Leeb D |
Имеются датчики
Leeb D / DC / DL / S / E / G / C |
Имеются датчики
Portable Rockwell (50 Н) |
Имеются датчики
UCI (диапазон нагрузок HV1 – HV10) |
Имеются датчики
Leeb D / DL |
Комбинации с другими методами |
Комбинации с другими методами
|
Комбинации с другими методами
|
Комбинации с другими методами
Portable Rockwell, UCI |
Комбинации с другими методами
Leeb, UCI |
Комбинации с другими методами
Leeb, Portable Rockwell |
Комбинации с другими методами
|
Средняя шероховатость Ra (мкм / мкдюйм) |
Средняя шероховатость Ra (мкм / мкдюйм)
12.5 / 500 |
Средняя шероховатость Ra (мкм / мкдюйм)
2 / 80 |
Средняя шероховатость Ra (мкм / мкдюйм)
7 / 275 (Leeb G) |
Средняя шероховатость Ra (мкм / мкдюйм)
2 / 80 |
Средняя шероховатость Ra (мкм / мкдюйм)
12.5 / 500 |
Средняя шероховатость Ra (мкм / мкдюйм)
2 / 80 |
Минимальный вес (кг / фунт) |
Минимальный вес (кг / фунт)
0.3 / 0.66 |
Минимальный вес (кг / фунт)
0.05 / 0.2 |
Минимальный вес (кг / фунт)
0.02 / 0.045 (Leeb C) |
Минимальный вес (кг / фунт)
Требования отсутствуют |
Минимальный вес (кг / фунт)
0.3 / 0.66 |
Минимальный вес (кг / фунт)
0.05 / 0.2 |
Минимальная толщина (мм / дюйм) |
Минимальная толщина (мм / дюйм)
5 / 0.2 |
Минимальная толщина (мм / дюйм)
3 / 0.12 |
Минимальная толщина (мм / дюйм)
1 / 0.04 (Leeb C) |
Минимальная толщина (мм / дюйм)
10 x глубина проникновения индентора |
Минимальная толщина (мм / дюйм)
5 / 0.2 |
Минимальная толщина (мм / дюйм)
3 / 0.12 |
Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
---|
Стандарт для крупных объектов |
Стандарт для крупных объектов
|
Стандарт для крупных объектов
|
Стандарт для крупных объектов
|
Стандарт для крупных объектов
|
Стандарт для крупных объектов
|
Стандарт для крупных объектов
|
Круглые объекты |
Круглые объекты
|
Круглые объекты
В комбинации с опорными кольцами
|
Круглые объекты
В комбинации с опорными кольцами
|
Круглые объекты
В сочетании со специальной опорной стойкой
|
Круглые объекты
|
Круглые объекты
В комбинации с опорными кольцами
|
Легкие объекты ( <2kg) |
Легкие объекты ( <2kg)
|
Легкие объекты ( <2kg)
|
Легкие объекты ( <2kg)
С датчиком Leeb C
|
Легкие объекты ( <2kg)
|
Легкие объекты ( <2kg)
|
Легкие объекты ( <2kg)
|
Очень твердые объекты |
Очень твердые объекты
|
Очень твердые объекты
|
Очень твердые объекты
С датчиками Leeb S и E
|
Очень твердые объекты
|
Очень твердые объекты
|
Очень твердые объекты
|
Литые предметы |
Литые предметы
|
Литые предметы
|
Литые предметы
С датчиками Leeb G и D
|
Литые предметы
|
Литые предметы
|
Литые предметы
|
Полированные объекты |
Полированные объекты
|
Полированные объекты
|
Полированные объекты
С датчиком Leeb C
|
Полированные объекты
|
Полированные объекты
|
Полированные объекты
|
Ограниченная доступность |
Ограниченная доступность
|
Ограниченная доступность
|
Ограниченная доступность
С датчиками Leeb DC и DL
|
Ограниченная доступность
|
Ограниченная доступность
|
Ограниченная доступность
С датчиком Leeb DL
|
Тонкие объекты ( <5mm) |
Тонкие объекты ( <5mm)
|
Тонкие объекты ( <5mm)
|
Тонкие объекты ( <5mm)
|
Тонкие объекты ( <5mm)
|
Тонкие объекты ( <5mm)
|
Тонкие объекты ( <5mm)
|
Термически обработанные поверхности |
Термически обработанные поверхности
|
Термически обработанные поверхности
|
Термически обработанные поверхности
|
Термически обработанные поверхности
|
Термически обработанные поверхности
|
Термически обработанные поверхности
|
Дополнительные сферы применения |
Дополнительные сферы применения
|
Дополнительные сферы применения
|
Дополнительные сферы применения
|
Дополнительные сферы применения
|
Дополнительные сферы применения
|
Дополнительные сферы применения
|
Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
---|
Встроенное программное обеспечение прибора |
Встроенное программное обеспечение прибора
|
Встроенное программное обеспечение прибора
|
Встроенное программное обеспечение прибора
|
Встроенное программное обеспечение прибора
|
Встроенное программное обеспечение прибора
|
Встроенное программное обеспечение прибора
|
ПО для ПК |
ПО для ПК
Решение Equotip Live на основе браузера |
ПО для ПК
Решение Equotip Live на основе браузера |
ПО для ПК
Equotip Link обеспечивает создание прямых и пользовательских отчетов |
ПО для ПК
Equotip Link обеспечивает создание прямых и пользовательских отчетов |
ПО для ПК
Equotip Link обеспечивает создание прямых и пользовательских отчетов |
ПО для ПК
Программное обеспечение Piccolink (только Equotip Piccolo 2) |
Дисплей |
Дисплей
Любой прибор iOS (в объем поставки не включается) |
Дисплей
Любое устройство iOS (в объем поставки не включается) |
Дисплей
Защищенный электронный блок с цветным сенсорным дисплеем 7” (800 x 480 пикселей), двухъядерный процессор |
Дисплей
Защищенный электронный блок с цветным сенсорным дисплеем 7” (800 x 480 пикселей), двухъядерный процессор |
Дисплей
Защищенный электронный блок с цветным сенсорным дисплеем 7” (800 x 480 пикселей), двухъядерный процессор |
Дисплей
Монохромный дисплей на 4 символа |
Память |
Память
Память прибора iOS |
Память
Память устройства iOS |
Память
Внутренняя флэш-память 8 Гбайт (> 1000000 измерений) |
Память
Внутренняя флэш-память 8 Гбайт (> 1000000 измерений) |
Память
Внутренняя флэш-память 8 Гбайт (> 1000000 измерений) |
Память
32 Кбайт (~ 2000 показаний) (только Equotip Piccolo 2) |
Разъемы |
Разъемы
USB для подзарядки и обновлений |
Разъемы
USB для подзарядки и обновлений |
Разъемы
USB-хост / устройство и Ethernet |
Разъемы
USB-хост / устройство и Ethernet |
Разъемы
USB-хост / устройство и Ethernet |
Разъемы
USB-интерфейс для соединения с ПК |
Диапазон измерений |
Диапазон измерений
20 – 2000 HV |
Диапазон измерений
150 – 950 HL |
Диапазон измерений
150 – 950 HL |
Диапазон измерений
0-100 мкм; 19-70 HRC; 35-1 000 HV |
Диапазон измерений
20 – 2000 HV |
Диапазон измерений
150 – 950 HL |
Погрешность измерений |
Погрешность измерений
+/- 2 % (150–950 HV) |
Погрешность измерений
± 4 HL (0,5% при 800 HL) |
Погрешность измерений
± 4 HL (0,5% при 800 HL) |
Погрешность измерений
± 0,8 мкм; ~ ± 1,0 HRC |
Погрешность измерений
± 2 % (150 – 950 HV) |
Погрешность измерений
± 4 HL (0,5% при 800 HL) |
Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
---|
Стандарты |
Стандарты
|
Стандарты
|
Стандарты
|
Стандарты
|
Стандарты
|
Стандарты
|
Руководства |
Руководства
|
Руководства
|
Руководства
|
Руководства
|
Руководства
|
Руководства
|
Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
---|
Измерительные приборы |
Измерительные приборы
|
Измерительные приборы
|
Измерительные приборы
|
Измерительные приборы
|
Измерительные приборы
|
Измерительные приборы
|
Проверочные инструменты |
Проверочные инструменты
|
Проверочные инструменты
Мера твердости Equotip D/DC, ~775 HLD / ~56 HRC, Заводская калибровка Proceq (357 13 100) |
Проверочные инструменты
|
Проверочные инструменты
Мера твердости Equotip Portable Rockwell ~62 HRC, ISO 6508-3 HRC калиброванная (357 44 100) |
Проверочные инструменты
Мера твердости Equotip UCI ~850HV, ISO 6507-3 HV5 калибровка (357 54 100) |
Проверочные инструменты
Мера твердости Equotip D/DC, ~775 HLD / ~56 HRC, Заводская калибровка Proceq (357 13 100) |
Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
---|
Документы |
Документы
|
Документы
|
Документы
|
Документы
|
Документы
|
Документы
|
Программное обеспечение |
Программное обеспечение
|
Программное обеспечение
|
Программное обеспечение
|
Программное обеспечение
|
Программное обеспечение
|
Программное обеспечение
|
Пресс-релиз |
Пресс-релиз
|
Пресс-релиз
|
Пресс-релиз
|
Пресс-релиз
|
Пресс-релиз
|
Пресс-релиз
|
Equotip Live UCI |
Equotip Live Leeb D |
Equotip 550 Leeb |
Equotip 550 Portable Rockwell |
Equotip 550 UCI |
Equotip Piccolo / Bambino 2 |
---|
Отправить запрос | Отправить запрос | Отправить запрос | Отправить запрос | Отправить запрос | Отправить запрос |